Mapeo EDS de alta resolución de partículas de Co integradas en sílice mesoporoso medidas e investigadas a 30 kV.
Aplicaciones de microscopía para nanomateriales y nanociencias

Películas delgadas

Captura de imágenes subnanométricas de materiales sensibles por debajo de 1 kV sin una lente de inmersión, daño del haz o efectos de carga

Al igual que la mayoría de nanomateriales con dimensiones que se acercan al reino cuántico, las películas delgadas demuestran propiedades que no se ven en sus equivalentes de mayor tamaño. Las técnicas de procesamiento a escala atómica, como ALD o ALE, ahora pueden depositar (o retirar) materiales por capas atómicas de una en una, lo cual permite un control extremo de los tamaños de las características durante la fabricación de dispositivos. Y comprender las superficies y la química de estas películas es fundamental para optimizar su rendimiento.

Avance en la investigación de nanomateriales: por capas atómicas de una en una

Sin embargo uno de los principales desafíos en la investigación de películas delgadas es la captura de imágenes de superficies a alta resolución sin dañar la muestra. También resulta problemática la obtención de datos químicos precisos de alta resolución a partir de las mismas muestras usando EDS, debido al recuento de rayos X extremadamente bajo.

La solución es una mayor resolución a menor kV

La resolución de estos problemas ha impulsado el desarrollo de herramientas SEM que permiten una captura de imágenes de mayor resolución cada vez a menor kV. De hecho, la captura de imágenes de SEM de alto rendimiento por debajo de 1 kV ahora se considera el mejor estándar para el análisis de materiales en películas delgadas. Y si lo combina con el mapeo EDS de alta resolución usando avanzados sistemas detectores (que maximizan los ángulos sólidos y de elevación), también puede dilucidar datos químicos muy precisos de estas superficies. A su vez, esto le da la confianza de que su espectro o mapa EDS es una representación precisa de su muestra.

Los SEM y LM de ZEISS le ayudan a progresar

ZEISS sigue desarrollando tecnología de captura de imágenes de alta resolución a bajo kV para que pueda seguir avanzando en su investigación. Los modelos ZEISS GeminiSEM, combinados con detectores EDS diseñados específicamente para las columnas ópticas Gemini del SEM, le ayudan a analizar la superficie de las películas delgadas sensibles a haces con una resolución nunca antes vista. Además, se pueden realizar mediciones topográficas en 3D rápidas y no destructivas con técnicas de barrido láser confocal.

Vídeos de instrucciones

  • Preparación de TEM

    Flujo de trabajo estándar

  • Preparación de TEM

    Flujo de trabajo de vista planar

  • Preparación de TEM

    Flujo de trabajo de vista posterior

Detección automática de núcleos celulares marcados con fluorescencia en muestras biológicas con ZEISS ZEN

Detección automática de núcleos celulares marcados con fluorescencia en muestras biológicas con ZEISS ZEN

Detección automática de núcleos celulares marcados con fluorescencia en muestras biológicas con ZEISS ZEN

Detección automática de núcleos celulares marcados con fluorescencia en muestras biológicas con ZEISS ZEN
 

Detección automática de núcleos celulares marcados con fluorescencia en muestras biológicas con ZEISS ZEN
 

Datos robustos y fiables

Éxito en el descubrimiento de fármacos
Las soluciones de ZEISS para la captura de imágenes de alto contenido facilitan la generación de datos seguros a través de muchas facetas.

  • En primer lugar, la tecnología de captura de imágenes líder en el mercado, ZEISS Celldiscoverer 7, genera datos de alta calidad con la captura más delicada posible, protegiendo sus muestras frente a perturbaciones inducidas por la luz.
  • Adicionalmente, ZEISS proporciona formación de alta calidad y recursos de ayuda para permitir que incluso los usuarios principiantes utilicen la tecnología con su máximo potencial, preparándoles para obtener buenos resultados desde el principio.
  • Más allá de eso, se pueden incorporar tanto parámetros de adquisición de imágenes de ZEN como canales de análisis de imágenes de arivis Vision4D en flujos de trabajo completamente automatizados, lo que permite que la salida de datos sea totalmente consistente y reproducible entre varios usuarios y durante la escala de tiempo de su estudio.
  • Finalmente, la plataforma ampliable de análisis y gestión de datos arivis VisionHub incluye la gestión de usuarios transparente y una función de pista de auditoría para asegurar la trazabilidad completa de sus resultados, incluso cuando se trabaja con conjuntos de datos excesivamente grandes y complejos.

Aplicaciones

Elementos traza en películas delgadas

Elementos traza en películas delgadas

Elementos traza en películas delgadas

Elementos traza en películas delgadas

Célula solar de perovskita sobre un sustrato de cristal después de una medición SIMS de arriba a abajo. La región de interés se escaneó mediante el haz de galio 500 veces. Se analizaron los iones secundarios mediante espectroscopía, según su relación de masa/carga. Se observó una señal Na significativa en todas las capas. La mezcla y difusión de elementos traza se puede estudiar mediante SIMS y se sabe que influye en el rendimiento de células fotovoltaicas de películas finas (imagen SEM izquierda, barra de escala de 2 μm, mapa derecho de Na SIMS). FIB-SEM ZEISS Crossbeam 350 con un detector SIMS de tiempo de vuelo (ToF). Muestra cortesía de Arafat Mahmud, RSEEME, Universidad Nacional Australiana.

Nanopartículas de ZnO sobre una película de carbono

Serie de inclinación STEM, las imágenes de STEM en campo claro se muestran como un ejemplo de cuatro señales captadas en total de forma simultánea con el detector aSTEM usando el portamuestras especial para tomografía STEM. ZEISS GeminiSEM. 


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Descargas

  • Achieving Nano-scaled EDS Analysis in an SEM

    with a Detector for Transmission Scanning Electron Microscop

    Páginas: 5
    Tamaño de archivo: 863 KB
  • ZEISS GeminiSEM 500

    Nanometer scale EDS Analysis using Low-kV FE-SEM and Windowless EDS Detector

    Páginas: 6
    Tamaño de archivo: 1 MB
  • Topography and Refractive Index Measurement

    of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

    Páginas: 6
    Tamaño de archivo: 1 MB