ZEISS VersaXRM 5 Insight

試料全体を 3Dで把握し、関心領域を特定、そのまま詳細領域の高分解能 X線顕微鏡イメージングへ移行できます。VersaXRM 5 Insightは、マイクロ CTと X線顕微鏡を1つのシームレスなワークフローでつなぎ、非破壊で試料状態を保ちながら、全体把握から精密な詳細解析までを効率的に進め、迅速な洞察獲得を支援します。

RaaD なら、大きな試料を加工することなく、内部にある微細構造や欠陥を高分解能で観察できます。試料調整の時間を減らし、解析により多くの時間をかけながら、試料の状態維持にも貢献します。

ZEN navx は、洗練されたガイダンスと試料に応じたナビゲーションにより、段取りを効率化。オペレーターによる操作のばらつきを抑え、ワークフロー上の判断を簡単にします。1回の測定で、より高い生産性を実現します。

FAST モードでは、ナビゲーション、3D 検査、詳細領域の解析に必要な画像情報を迅速に取得できます。スクリーニング処理量を高めて、判断までを高速化します。in situ 実験にも対応しています。