目前，已有几种不同的去卷积算法供研究人员使用。其中一些算法非常快速，足够用于模糊程度低的系统。如果系统的模糊程度较高，则需要更加成熟的算法，而这些算法将使用更广泛的计算资源，耗时也将更长。虽然这些算法可以解决更困难的问题并获得更优质的图像结果，但处理时间有时会成为很大的阻碍。ZEN去卷积工具包提供了一系列算法，使您能够选择适合您实验和后期处理需求的算法。

去卷积工具包算法经过优化，使用非常方便并且具有高性能。ZEN会读取图像的元数据并自动确定光学系统的点扩散函数（PSF），为去卷积调节理想设置。通过GPU或甚至mGPU处理，算法加速超过10倍。为了更快得到结果，所有去卷积算法在图像采集期间都使用ZEN Direct Processing（同步数据处理）运行。此外，无损数据压缩算法Zstandard（zstd）可以进一步提高资源密集型处理任务的速度。

图像：约束迭代去卷积前后，标记用于线粒体（TOM20-mCherry）和微管（Tubulin-GFP）结构的U2OS细胞。