ZEISS WORKSHOP | Garching

Materialmikroskopie

Präzision, Geschwindigkeit, KI

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Zukunftsweisende Methoden in der Materialmikroskopie

Neue Einsichten, Präzision, Geschwindigkeit, KI

Dieser Workshop ist eine hervorragende Gelegenheit, die aktuellen Möglichkeiten und Anwendungen in der Materialmikrokopie sowie in der digitalen Bildanalyse, auch mit Hilfe der künstliche Intelligenz (KI) kennenzulernen.

Während des Workshops erwarten Sie spannende Vorträge und praktische Demonstrationen an verschiedenen Geräten sowie praktische Übungen in der Bildanalyse. Sie haben die Möglichkeit, die Messtechnik komplexer Bauteile in Aktion zu erleben und technische Informationen aus erster Hand zu erhalten. Darüber hinaus können Sie zukunftsweisende Technologien vor Ort begutachten und ihre Funktionsweise verstehen.

 

Key Learnings

  • Zerstörungsfreie und automatisierte Materialmikroskopie
  • Künstliche Intelligenz in der Bildanalyse
  • Mikroskopie trifft Messtechnik

Agenda

München-Garching | ZEISS Quality Excellence Center

  • 10 Uhr

    Begrüßung
    Carsten Gericke, ZEISS Quality Excellence Center, Garching
    Johannes Kaindl, ZEISS Microscopy

    10.15 Uhr

    Vortrag
    TBD

    10.55 Uhr

    Optimierung von Bildanalyse-Workflows durch Machine Learning Methoden
    Dr. Marion Lang, ZEISS

    11.35 Uhr

    Kaffeepause

    11.45 Uhr

    System-Demonstrationen

    12.25 Uhr

    Mittagessen

    13.15 Uhr

    System-Demonstrationen

    13.45 Uhr

    System-Demonstrationen

    14.35 Uhr

    Kaffeepause

    15 Uhr

    System-Demonstrationen

    15.40 Uhr

    Ende der Veranstaltung

  • Station 1

    Hochauflösende Zoom-Mikroskopie für große Objektfelder mit Axio Zoom V.16

    Station 2

    Automatisierte Materialmikroskopie für Forschung und Routine

    Station 3

    KI-gestützte digitale Bildanalyse in der Praxis

    Station 4

    Führung QEC: Hier lösen wir Ihre messtechnischen Herausforderungen

    Station 5

    Messtechnik trifft Mikroskopie: Optimale Messungen mit O-Inspect Duo

    Station 6

    Virtuelle Highend-Mikroskopie und Workflows: Elektronen- und Röntgenmikroskopie

Registrierung

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Veranstaltungsort

ZEISS Quality Excellence Center

ZEISS Quality Excellence Center Carl-Zeiss-Straße 8a 85748 Garching bei München Deutschland