ZEISS WORKSHOP | Garching

Materialmikroskopie

Name: Zukunftsweisende Methoden in der Materialmikroskopie
Start: 2024-06-12 10:00+02:00
End: 2024-06-12 15:40+02:00
Location: ZEISS Quality Excellence Center

Präzision, Geschwindigkeit, KI

Mi., 12 Juni 2024

Starting soon

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Innovative Methoden in der Materialmikroskopie

Neue Einsichten, Präzision, Geschwindigkeit, KI

Dieser Workshop ist eine hervorragende Gelegenheit, die aktuellen Möglichkeiten und Anwendungen in der Materialmikroskopie sowie in der digitalen Bildanalyse, auch mit Hilfe der künstlichen Intelligenz (KI) kennenzulernen.

Während des Workshops erwarten Sie spannende Vorträge und praktische Demonstrationen an verschiedenen Geräten sowie praktische Übungen in der Bildanalyse. Sie haben die Möglichkeit, die Messtechnik komplexer Bauteile in Aktion zu erleben und technische Informationen aus erster Hand zu erhalten. Darüber hinaus können Sie zukunftsweisende Technologien vor Ort begutachten und ihre Funktionsweise verstehen.

Key Learnings

Zerstörungsfreie und automatisierte Materialmikroskopie
Künstliche Intelligenz in der Bildanalyse
Mikroskopie trifft Messtechnik

Agenda

München-Garching | ZEISS Quality Excellence Center


10 Uhr	Begrüßung Carsten Gericke, ZEISS Quality Excellence Center, Garching Johannes Kaindl, ZEISS Microscopy
10.15 Uhr	Optimierung von Bildanalyse-Workflows durch Machine Learning Methoden Marion Lang, ZEISS Microscopy
10.55 Uhr	Unser Service für Ihr Mikroskop Michael Otzen, ZEISS Microscopy
11.35 Uhr	Kaffeepause
11.45 Uhr	System Demonstrationen an Stationen - Stellen Sie direkt Ihre Fragen
12.25 Uhr	Mittagessen
13.15 Uhr	System Demonstrationen an Stationen - Stellen Sie direkt Ihre Fragen
15.40 Uhr	Ende der Veranstaltung

Station 1	Hochauflösende Zoom-Mikroskopie für große Objektfelder mit Axio Zoom V.16
Station 2	Automatisierte Materialmikroskopie für Forschung und Routine
Station 3	KI-gestützte digitale Bildanalyse in der Praxis
Station 4	Führung QEC: Hier lösen wir Ihre messtechnischen Herausforderungen
Station 5	Messtechnik trifft Mikroskopie: Optimale Messungen mit ZEISS O-INSPECT duo
Station 6	Virtuelle Highend-Mikroskopie und Workflows: Elektronen- und Röntgenmikroskopie

Registrierung

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Veranstaltungsort

ZEISS Quality Excellence Center

ZEISS Quality Excellence Center Carl-Zeiss-Straße 8a 85748 Garching bei München Deutschland

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