FIB-SEM Crossbeam Samplefab de ZEISS

ZEISS Crossbeam Samplefab ha sido diseñado para estandarizar y escalar tareas repetitivas de preparación de muestras mediante FIB, reduciendo la dependencia del operador y aumentando el rendimiento en entornos de producción, servicio e instalaciones compartidas. Al automatizar el flujo de trabajo desde el material a granel hasta la rejilla, Crossbeam Samplefab garantiza una calidad de lámina consistente y resultados fiables entre turnos, operadores y ubicaciones.

Crossbeam Samplefab prioriza la automatización y la reproducibilidad frente a la flexibilidad. A diferencia de otros modelos Crossbeam, Samplefab ofrece flujos de trabajo totalmente manos libres y basados en recetas para la preparación de láminas delgadas TEM de alto rendimiento. Esto hace que Crossbeam Samplefab sea ideal para entornos en los que la consistencia y la escalabilidad son fundamentales, como la producción de semiconductores y la ingeniería de rendimiento.

Crossbeam Samplefab es especialmente adecuado para flujos de trabajo repetitivos, como la preparación de láminas delgadas TEM, el seccionado transversal rutinario y los procesos FIB estandarizados, en los que la consistencia y el rendimiento son factores cruciales.

No. Crossbeam Samplefab está optimizado principalmente para una preparación estandarizada y repetible, pero no para flujos de trabajo exploratorios o que cambian con frecuencia. No obstante, Crossbeam Samplefab es compatible con el desarrollo exploratorio de recetas, ya que permite a los usuarios configurar diferentes recetas para cada punto de preparación. Esto posibilita la prueba y evaluación de condiciones óptimas para composiciones de material específicas antes de estandarizar los flujos de trabajo.

El software es clave para la automatización y la eficiencia de Crossbeam Samplefab. ZEN core para microscopía electrónica integra el control de SEM y FIB en un único entorno y admite flujos de trabajo basados en recetas, ejecución por lotes y captura de imágenes sincronizada durante el fresado. Para el análisis posterior, el ecosistema ZEISS arivis permite una visualización, segmentación y análisis cuantitativo escalables de conjuntos de datos complejos, garantizando una evaluación y documentación consistentes.

Crossbeam Samplefab ofrece rendimientos de automatización cualificados superiores al 90 %, desde el seccionado inicial hasta la fijación a la rejilla. Esta elevada tasa de éxito se logra mediante un procesamiento manos libres, un acabado con bajo voltaje de aceleración (kV) y flujos de trabajo basados en recetas que minimizan la intervención del usuario. El sistema prioriza en primer lugar la seguridad del dispositivo y, en segundo lugar, la calidad de la muestra, garantizando que las capas cruciales del dispositivo permanezcan intactas durante la preparación. La intervención del usuario solo se solicita cuando es necesario, lo que refuerza aún más la fiabilidad y la reproducibilidad de los flujos de trabajo.

Sí. Crossbeam Samplefab ha sido diseñado para tratar con cuidado los materiales sensibles al haz, utilizando el acabado FIB de baja energía y la captura de imágenes SEM con bajo voltaje de aceleración (kV) para reducir el daño y preservar los detalles estructurales finos. Esto garantiza una preparación fiable de muestras delicadas, incluidas películas delgadas, polímeros y estructuras semiconductoras complejas.