Saltar a contenido principal
Research Microscopy Solutions
atrás
Research Microscopy Solutions
Microscopio FIB-SEM Crossbeam 350 de ZEISS diseñado para la captura de imágenes y la preparación de muestras flexibles en laboratorios de investigación multiusuario.

FIB-SEM Crossbeam 350 de ZEISS

FIB-SEM flexible para aplicaciones de laboratorio multiusuario
Contenido
Póngase en contacto con nosotros

ZEISS Crossbeam 350 combina el fresado FIB Ion-sculptor de ZEISS con la captura de imágenes Gemini 1 de ZEISS y el funcionamiento en presión variable para cubrir una amplia gama de aplicaciones, incluidas las muestras no conductoras, magnéticas y no compatibles con condiciones de alto vacío. El sistema, diseñado para instalaciones compartidas, proporciona capacidades de análisis de captura de imágenes de alta resolución, preparación de muestras y configuraciones flexibles para flujos de trabajo de investigación e industriales.

  • SEM de presión variable para materiales no conductores y desafiantes
  • Fresado FIB Ion-sculptor rápido y preciso, mediante acabado con bajo voltaje de aceleración (kV) para minimizar el daño en la muestra
  • Opciones flexibles de cámara y accesorios para análisis y nanofabricación
  • Alineación estable y funcionamiento sencillo, que lo hacen ideal para instalaciones compartidas
Qué lo diferencia
ZEISS Crossbeam 350 FIB-SEM microscope used for flexible materials analysis and sample preparation workflows.

¿Qué diferencia a Crossbeam 350?

Crossbeam 350 ha sido diseñado para flujos de trabajo rutinarios, incluidos el funcionamiento en vacío bajo, el procesamiento FIB estándar y la preparación de láminas delgadas TEM. Los flujos de trabajo guiados y semiautomatizados reducen el esfuerzo manual y mejoran la reproducibilidad entre usuarios y ubicaciones. La captura de imágenes NavCam con precámara opcional acelera la navegación y la definición de regiones de interés (ROI) en muestras y obleas de gran tamaño, lo que permite transiciones más rápidas desde la muestra hasta el resultado. Además, el soporte ampliado de inyección de gas, con hasta cinco canales, aporta mayor flexibilidad para deposición y grabado, y permite que los flujos de trabajo evolucionen a medida que las aplicaciones aumentan en complejidad.

Illustration of focused ion beam milling used to prepare thin TEM lamellae for analysis with the ZEISS Crossbeam 350 FIB-SEM.

Especificaciones clave

  • Óptica electrónica y tecnología de haz de iones: FE-SEM Gemini 1 + FIB Ion-sculptor
  • Rango de presión VP: compatible con materiales no conductores y no compatibles con condiciones de alto vacío
  • Resolución: alta resolución sensible a la superficie mediante SEM a bajo voltaje de aceleración (kV) para un análisis rutinario a escala nanométrica
  • Compatibilidad de muestras: admite muestras no conductoras, magnéticas, con desgasificación y no compatibles con condiciones de alto vacío, así como metales, polímeros, cerámicas, biomateriales, células, tejidos y muestras de semiconductores
SEM image of a TEM lamella trench prepared by focused ion beam milling for lamella thinning and sample preparation.

Flujos de trabajo integrados para la preparación y captura de imágenes de láminas delgadas TEM

ZEISS Crossbeam 350 optimiza la preparación de muestras FIB-SEM, el análisis de fallos y la tomografía 3D exploratoria. Los investigadores pueden realizar el seccionado inicial, el adelgazamiento y la inspección con monitorización SEM en tiempo real, seguidos de un pulido FIB de baja energía para minimizar el daño por iones. Los flujos de trabajo guiados de ZEN admiten la preparación manual y semiautomatizada de láminas delgadas TEM, la ejecución por lotes en varias ubicaciones y una reproducibilidad basada en recetas, lo que convierte a Crossbeam 350 en un punto de entrada accesible para el análisis 3D.

SEM image of a milled sample cross-section displayed in ZEISS software for FIB-SEM analysis and microscopy workflow automation.

Flujos de trabajo de software avanzados para la automatización, el análisis y el procesamiento escalable de datos de microscopía

ZEISS ofrece un ecosistema de software integrado que acelera los flujos de trabajo de microscopía desde la adquisición hasta la obtención de conocimiento. ZEN core para microscopios electrónicos gestiona recetas automatizadas, ejecución por lotes y captura de imágenes SEM/FIB integrada. Como complemento al control central, la suite ZEISS arivis amplía las capacidades mediante un análisis de imágenes escalable y basado en IA.

arivis Pro permite una visualización multidimensional flexible y flujos de segmentación, arivis Hub acelera y agrupa el procesamiento de grandes volúmenes de datos y arivis Cloud proporciona el entrenamiento de modelos de IA en la nube para automatizar y escalar análisis avanzados sin necesidad de programación. En conjunto, estas herramientas mejoran la nanofabricación, la captura de imágenes de grandes áreas y los flujos de trabajo correlativos, con resultados reproducibles y de máxima calidad.

Aplicaciones relacionadas

Seleccionar una categoría Investigación de materiales
Investigación de materiales
Electrónica y semiconductores
Ciencias de la vida e investigación biológica
Micrografía SEM de canales nanofluídicos fabricados mediante fresado con haz de iones focalizados para la investigación en microfluídica y nanofluídica.

Investigación de materiales

  • Realización de análisis de nanoestructuras con captura de imágenes a bajo voltaje de aceleración (kV) que proporciona sensibilidad superficial
  • Ejecución de secciones transversales en ubicaciones específicas y tomografía 3D
  • Preparación de muestras TEM mediante el fresado de baja energía
  • Adaptación de flujos de trabajo a una amplia variedad de muestras, como cerámicas, polímeros, metales y materiales compuestos
  • Caracterización de capas de contacto, interconexiones y nodos avanzados mediante la captura de imágenes en presión variable (VP)
  • Reducción de la carga de la muestra sin recubrimiento, gracias al funcionamiento en presión variable
Imagen SEM de un dispositivo MOSFET de SiC seccionado, que muestra el contraste de dopaje entre la difusión N+ y las regiones de cuerpo de tipo P, obtenida a bajo voltaje con el FIB-SEM Crossbeam 350 de ZEISS.

Electrónica y semiconductores

  • Análisis de dispositivos de mayor tamaño: ideal para MEMS, dispositivos analógicos, nodos maduros y dispositivos de potencia
  • Preparación de láminas delgadas TEM en varios dispositivos, con espesor consistente y daño mínimo
Reconstrucción 3D mediante FIB-SEM del nematodo C. elegans que muestra su anatomía interna con resolución nanométrica.

Ciencias de la vida e investigación biológica

  • Revelación de la microestructura mediante la captura de imágenes SEM sensible a la superficie y a bajo voltaje de aceleración (kV)
  • Acceso a regiones específicas de células o tejidos mediante fresado FIB de alta precisión
  • Realización de tomografía 3D para la reconstrucción de orgánulos e interfaces biológicas
  • Preparación de láminas delgadas TEM de alta calidad mediante adelgazamiento de baja energía, con daño mínimo

Testimonio de un cliente

En el interior de estas células tienen lugar numerosas interacciones físicas y, mediante microscopía electrónica 3D, podemos observarlas en su conjunto. Esto nos permite obtener una visión integrada de la estructura de la célula muscular.

Dr. Brian Glancy Investigador Earl Stadtman, Muscle Energetics Laboratory, National Heart, Lung, and Blood Institute at the National Institutes of Health, EE. UU.

Servicio técnico y asistencia

Asesoramiento experto para la preparación diaria de muestras y el análisis

ZEISS acompaña a los usuarios de Crossbeam 350 mucho más allá de la instalación. Nuestros especialistas en aplicaciones le ayudarán a poner el sistema en funcionamiento rápidamente, optimizar los flujos de trabajo y adquirir confianza en la preparación de muestras FIB-SEM y el análisis 3D. Los acuerdos de servicio flexibles, el diagnóstico remoto y las opciones de formación facilitan el mantenimiento del rendimiento y permiten que el sistema evolucione según las necesidades, sin comprometer recursos en fases iniciales.

Contacto ZEISS Microscopy

Mejorar/Reacondicionar

Formación

Buscador de software

Descarga de software

Contacto

Cargando el formulario...

/ 4
Siguiente paso:
  • Paso 1
  • Paso 2
  • Paso 3
Contacto
Información necesaria
Información opcional

Para obtener más información sobre el procesamiento de datos en ZEISS, consulte nuestra declaración de protección de datos.

Servicio y asistencia

Preguntas frecuentes

  • ZEISS Crossbeam 350 es especialmente adecuado para laboratorios que requieren un rendimiento FIB-SEM fiable en una amplia variedad de muestras, con la flexibilidad necesaria para investigación exploratoria, preparación rutinaria de láminas delgadas TEM y uso en instalaciones compartidas. El sistema utiliza la óptica electrónica Gemini 1, el fresado FIB Ion-sculptor y un SEM de presión variable para trabajar con una amplia gama de materiales, incluidas muestras no conductoras, magnéticas y no compatibles con condiciones de alto vacío. Sus flujos de trabajo guiados y las configuraciones flexibles lo convierten en una solución ideal para instalaciones compartidas y laboratorios multiusuario.

  • Crossbeam 350 utiliza ZEN core para microscopios electrónicos con el fin de proporcionar flujos de trabajo guiados y operaciones basadas en recetas, lo que ayuda a reducir la variabilidad entre usuarios y simplifica la formación en entornos compartidos.

  • Sí. Crossbeam 350 admite flujos de trabajo controlados de captura de imágenes y fresado para muestras sensibles al haz, aunque no está optimizado para las aplicaciones más exigentes en términos de mínimo daño o rendimiento ultralto.

  • Elija el microscopio Crossbeam 350 o Crossbeam 750 si necesita un sistema FIB-SEM flexible y fiable para una amplia gama de aplicaciones, entornos compartidos o investigación exploratoria, sin los elevados requisitos de rendimiento y productividad que justifican la elección del Crossbeam 550.

Productos relacionados