Webinaire

Microscopie électronique et analyse d’images en science des matériaux : de l’approche classique à l’Intelligence Artificielle

17 septembre 2026 · 45 MIN VISIONNAGE
  • Intelligence Artificielle
  • Microscopie Electronique à Balayage (MEB)
  • FIB-SEM Crossbeam
  • Logiciel
  • Sciences des Matériaux
Remy Berthier
Intervenant Remy Berthier, PhD Ingénieur Applications ZEISS Research Microscopy Solutions
Résumé

Analyse d’images en science des matériaux

Vous utilisez un microscope électronique et vous recherchez à automatiser l’acquisition et le traitement de vos images ?
Cette session montre comment les solutions ZEISS peuvent simplifier et fiabiliser vos analyses grâce à l'intelligente articielle. Optimisez vos workflows d'analyse des matériaux et découvrez les innovations en matière d’automatisation et d’IA.

Dans ce webinaire, nous verrons comment simplifier et fiabiliser l’analyse des matériaux, de l’analyse d’images traditionnelle jusqu’aux nouveaux outils d’Intelligence Artificielle. En abordant des applications concrètes, nous verrons comment ZEISS automatise l’acquisition et le traitement d’images pour accélérer l’obtention des résultats.

Vous apprendrez :

  • Les principaux outils de segmentations et de mesures automatiques
  • Les analyses de taille de grains, d'épaisseur de couches, de porosités, et analyses multi-phases
  • Les approches classiques et les nouvelles méthodes assistées par IA

Vous découvrirez qu’en combinant ces approches, il est aujourd’hui possible de réduire la complexité des acquisitions tout en maximisant la qualité et la répétabilité des résultats.

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