Forensische Ballistik und Untersuchung von Werkzeugspuren
Mikroskopieanwendungen für die Forensik

Forensische Ballistik und Untersuchung von Werkzeugspuren

Analyse mechanischer Einwirkung auf Materialoberflächen

Fachexperten werden regelmäßig mit lichtmikroskopischen Vergleichsanalysen beauftragt, um die mechanische Einwirkung auf Materialoberflächen zu analysieren und beispielsweise ein Projektil einer Waffe zuzuordnen. Eine Schusswaffe hinterlässt charakteristische und unverwechselbare Spuren, wie etwa Riefen an der Munition, die aus dieser Waffe abgefeuert wurde. Diese Riefen werden durch die Rillen an der Innenseite des Laufs von Handfeuerwaffen verursacht. Durch die Untersuchung dieser eindeutigen Spuren und vergleichende Untersuchungen der Riefen auf dem Projektil und der Waffe ist es möglich, einzelne abgefeuerte Geschosse einer bestimmten Waffe zuzuordnen.

Auf ähnliche Weise können auch andere Werkzeuge beliebiger Art, die an einem Tatort gefunden werden, untersucht werden. Die Untersuchung von Werkzeugspuren dient der Zuordnung von Werkzeugen zu Werkzeugspuren, z. B. einen Schraubendreher zu einem aufgebrochenen Fensterrahmen oder einen Hammer zu einer Kerbe. Selbst ganz neue Werkzeuge weisen bestimmte Merkmale auf, die bereits bei der Herstellung des Werkzeugs entstanden sind. Mithilfe verdächtiger Werkzeuge oder Schusswaffen werden Vergleichsproben angefertigt und der direkte Vergleich bestätigt entweder den Beweis oder widerlegt ihn.

Für solche Tätigkeiten werden spezialisierte zertifizierte Vergleichsmikroskopsysteme verwendet, die auf den optischen Systemen von ZEISS aufbauen. Diese Systeme bieten hochpräzise Optik, bestmögliche Ergonomie sowie fortschrittliche Beweisdokumentation und Fallberichte. Darüber hinaus bietet ZEISS eine breite Palette an Stereo-, Zoom- und Lichtmikroskopen mit fortschrittlichen Digitalkameras und Dokumentationssoftware für forensische Labore. Das einzigartige Digitalmikroskop Smartzoom 5 ist eine integrierte mobile Plattform für automatisiertes optisches Imaging, Messungen und Topografie. Mit diesem Mikroskop bringen Sie die modernsten Funktionen aus industriellen QA/QC-Workflows in Ihr forensisches Labor und sogar direkt an den Tatort.

Forensische Ballistik und Untersuchung von Werkzeugspuren

Aufgenommen mit ZEISS Stemi 508, Ringlicht, Viertelkreis links
Patronenhülse – aufgenommen mit ZEISS Stemi 508, Ringlicht, Viertelkreis links
Abgebildet mit ZEISS EVO, SE-Detektor bei 10 kV
Patronenhülse mit Narben und Spuren verursacht durch den Schlagbolzen; abgebildet mit ZEISS EVO, SE-Detektor bei 10 kV
Aufgenommen mit ZEISS Axio Zoom.V16
Spuren an der Projektilhülse

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