Service et assistance

Mises à niveau pour FE-SEM

Pour une longévité augmentée
et des fonctionnalités étendues

Détecteurs et analyses

Analysez votre échantillon en vous appuyant sur un large éventail de détecteurs. L'utilisation de plusieurs détecteurs vous permet de recevoir différents types d'informations sur la surface, la composition et d'autres détails qui vous aideront à améliorer et à simplifier vos processus. 

Trouvez les détecteurs adaptés à vos besoins :

  • Recevez des recommandations sur le détecteur qui convient à votre application
  • Guide d'application simple
  • Informations spécifiques sur le détecteur
  • Informations sur les fonctionnalités disponibles
  • Outil interactif pour en savoir plus sur les détecteurs ZEISS

Détecteur aSTEM

Obtenez un maximum d'informations grâce à une conception annulaire optimisée

Ajoutez une capacité d'imagerie électronique en transmission à votre système FE-SEM ou Crossbeam. Obtenez des informations supplémentaires sur vos échantillons biologiques ou solides ultrafins sans avoir à utiliser de microscope électronique à transmission dédié et bénéficiez d'une souplesse et d'une polyvalence maximales.

Avantages :

  • Meilleure résolution d'image
  • Sa facilité d'utilisation
  • Productivité et polyvalence accrues

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Détecteur AsB

Amélioration des performances à faible kV et de la productivité

Augmentez la productivité et améliorez la qualité d'image de votre FE-SEM en installant le nouveau détecteur d'électrons rétrodiffusés avec sélection d'angle (AsB). Profitez d'une vitesse élevée et d'une sensibilité accrue grâce à une conception améliorée du détecteur et des composants électroniques.

 

Avantages :

  • Amélioration des performances à faible kV
  • Amélioration du contraste de l'imagerie
  • Température stable

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Améliorez les fonctions de votre ancien détecteur AsB

Détecteur aBSD

De nombreuses informations sur le contraste

Le détecteur aBSD est utilisé pour détecter les électrons rétrodiffusés sous des angles très faibles. Il fournit toute une série d'informations de contraste grâce aux six canaux d'entrée du détecteur.

Avantages :

  • Imagerie variable
  • Amélioration de la collecte des signaux
  • Application silencieuse

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Détecteur EsB

Rend visibles les informations sous la surface et la composition à l'échelle nanométrique

Le détecteur d'électrons rétrodiffusés avec sélection d'énergie (EsB) est adapté au contraste de composition clair. Il s'agit d'un détecteur en colonne de forme annulaire qui est situé au-dessus du détecteur in-lens. Sa capacité à détecter les électrons rétrodiffusés (BSE) rend visibles les informations sous la surface et la composition à l'échelle nanométrique.

Avantages

  • Informations plus détaillées sur les matériaux
  • Réduction des effets de topographie
  • Contraste des matériaux avec sélection d'énergie

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Détecteur BSD

Imagerie 3D et métrologie des surfaces en temps réel

Le détecteur BSD4 est utilisé pour détecter les électrons rétrodiffusés sous des angles très faibles. Le mode COMPO est adapté pour produire un contraste de haute qualité entre les matériaux, ce qui signifie que les matériaux lourds sont affichés de manière plus vive que les matériaux légers.

Avantages :

  • Amélioration des performances à faible kV
  • Amélioration du contraste de l'imagerie
  • Température stable

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Détecteur Sense BSD

Imagerie rapide et efficace de l'ultrastructure

L'imagerie rapide à la résolution souhaitée nécessite des doses d'électrons et des tensions d'accélération élevées, qui peuvent provoquer des effets de charge et endommager l'échantillon, nuisant ainsi à la qualité de l'image. ZEISS Sense BSD combine l'imagerie ultrastructurelle haute résolution avec une efficacité et une qualité d'image inédites, vous permettant d'obtenir sur votre MEB des résultats comparables à un MET.

Avantages :

  • Parfaitement adapté aux échantillons biologiques non conducteurs et sujets à des charges
  • Protection optimale des échantillons et prévention de la dégradation de l'image
  • Obtention plus rapide d'images de haute qualité

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RISE pour Sigma

Optimisez votre ZEISS Sigma grâce à l'imagerie Raman et la microscopie électronique à balayage entièrement intégrées (Raman Imaging and Scanning Electron – RISE)

RISE (Raman Imaging and Scanning Electron Microscope) fournit une empreinte chimique et structurelle de votre échantillon : identifiez les informations moléculaires et cristallographiques et effectuez une analyse 3D de l'échantillon.

Avantages :

  • Sa facilité d'utilisation
  • Résultats d'excellente qualité
  • Objectif longue distance de travail

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BSD YAG

Excellente imagerie topographique et compositionnelle dans tous les modes de vide

Le détecteur BSD à scintillateur monocristallin YAG (grenat d'yttrium et d'aluminium) de ZEISS permet une conductivité de la lumière plus efficace, idéale pour l'imagerie à faible signal. Le matériau, exempt de dommages dus aux rayonnements, transforme le BSD YAG en un détecteur adapté à toutes les plages d'énergie du faisceau.

Avantages :

  • Sortie de signal plus élevée
  • Prévention des dommages
  • Polyvalence améliorée

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Amplificateur ES pour détecteurs BSD

Découvrez l'imagerie de haut niveau et une qualité d'image exceptionnelle

Le détecteur BSD est utilisé pour détecter les électrons rétrodiffusés sous des angles très faibles. Le nouvel amplificateur permet d'obtenir de meilleures performances de détection et fournit de nombreuses informations sur le contraste, un gain beaucoup plus élevé et un niveau de bruit plus faible.

 

Avantages :

  • Amélioration de la collecte des signaux
  • Application silencieuse
  • Imagerie variable

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ETSE pour EVO et Sigma

Imagerie topographique SE convaincante

Le nouveau détecteur ETSE (Everhart Thornely Secondary Electron) avec photomultiplicateur à couplage optique est conçu pour améliorer la collecte des SE lors d'opérations à faible kV et sur de plus longues distances de travail.

Avantages :

  • Réduction de l'effet de charge
  • Imagerie topographique améliorée
  • Détails de la surface remarquables

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VPSE G4

Collecte de signaux améliorée pour des vitesses de balayage plus rapides

La quatrième génération de détecteur SE à pression variable (VPSE G4) s'avère des plus convaincantes par l'amélioration du signal de collecte et donc par un temps de réponse plus rapide. Des vitesses de balayage plus élevées permettent d'augmenter la productivité. VPSE G4 offre 20 % de contraste supplémentaire jusqu'à une pression de 400 Pa (à 20 keV).

Avantages :

  • Imagerie topographique
  • Augmentation de la vitesse de balayage
  • Amélioration de l'imagerie à faible kV

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ZEISS SmartEDX

Solution EDS embarquée pour les applications de microanalyse par MEB de routine

Si l'imagerie MEB seule ne suffit pas pour acquérir une compréhension complète de vos échantillons, les chercheurs se tourneront vers la spectroscopie à énergie dispersive (EDS) pour acquérir des informations sur la chimie élémentaire à résolution spatiale.

Avantages :

  • Optimisé pour les applications de microanalyse courantes
  • Interface utilisateur graphique guidée selon le processus
  • Service complet et assistance pour les systèmes ZEISS

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Nanostructuration et structuration

Créez des structures de l'ordre du nanomètre en éliminant ou en appliquant un matériau de surface et en utilisant différents systèmes (par exemple, un microscope à force atomique), ou bénéficiez d'images multimodales et à échelles multiples complètes grâce aux diverses options de ZEISS Atlas 5.

Microscope à force atomique

Passez à la résolution 3D au niveau atomique

Le microscope à force atomique ajoute des mesures calibrées, de niveau atomique, en 3D et à haute résolution aux fonctionnalités existantes du MEB.

 

Avantages :

  • Obtention de plus d'informations sur les propriétés mécaniques, électriques, chimiques et magnétiques de la surface de votre échantillon
  • Une productivité et une polyvalence accrues alliées à une manipulation simple

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Atlas 5

Maîtrisez l'imagerie multi-échelles

ZEISS Atlas 5 vous simplifie la vie : créez des images multimodales à échelles multiples complètes avec un environnement corrélatif centré sur l'échantillon.

Avantages :

  • Mise en corrélation des images en plusieurs dimensions provenant de sources multiples
  • Acquisition d'images rapide et facile

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Logiciels et poste de travail

Découvrez les dernières versions de nos logiciels et leurs fonctionnalités avancées grâce aux différentes options de licence, ainsi que le matériel informatique de pointe actuellement recommandé pour optimiser les performances de vos systèmes.

Poste de travail MEB

Processus efficaces, navigation intuitive et recherche de fichiers plus rapide

La mise à niveau du poste de travail ZEISS SEM améliore le flux de tâches quotidien en utilisant la version la plus récente du logiciel SmartSEM, des spécifications matérielles haute performance et le dernier système d'exploitation.

 

Avantages :

  • Version la plus récente de SmartSEM
  • Navigation intuitive
  • Windows 10

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SmartSEM

Utilisez votre microscope électronique à balayage avec une plus grande efficacité

SmartSEM est un système d'exploitation pour microscopes électroniques qui permet d'accéder aux paramètres avancés du microscope afin de réaliser les tâches les plus difficiles.

 

Avantages :

  • Conditions d'imagerie améliorées
  • Modules logiciels supplémentaires
  • Plus d'informations sur vos images
  • Navigation intuitive

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Recherche de logiciel avec Software Finder

Votre guide pour les mises à niveau de ZEN

Votre guide interactif pour l'actualité sur les logiciels, les mises à jour et les fonctionnalités supplémentaires. Renseignez-vous sur les logiciels ZEISS, les postes de travail et leur compatibilité, les nouvelles fonctionnalités et les dernières versions logicielles.

 

  • Outil interactif pour en savoir plus sur ZEN
  • Guide de mise à jour logicielle simple
  • Informations sur la compatibilité avec les postes de travail
  • Informations sur les fonctionnalités logicielles supplémentaires disponibles
  • Informations supplémentaires sur ZEN core

 

Catalogue des modules logiciels

Étendez les fonctionnalités et les performances de votre microscope

Ajoutez de nouvelles fonctionnalités et améliorez les fonctionnalités existantes grâce à nos nombreuses licences qui vous permettront d'améliorer vos processus, de simplifier l'utilisation de votre système et de disposer d'outils permettant de recueillir davantage d'informations.

 

Avantages :

  • Meilleurs processus grâce à de nouvelles fonctionnalités
  • Utilisation plus agréable

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Modélisation de surface 3D

Analyse topographique d'échantillons en 3D

Votre microscope électronique à balayage mesure et analyse tous les types d'échantillons en 2D : pour analyser les surfaces des échantillons en 3D, utilisez le pack logiciel en option 3DSM de ZEISS. Obtenez des informations topographiques en reconstruisant un modèle 3D complet de la surface de votre échantillon à l'aide des signaux émis par le détecteur aBSD ou AsB.

Avantages :

  • 3DSM
  • Reconstruction de surface 3D de votre échantillon
  • Fonctionnement en temps réel et temps de reconstruction < 2s

3DSM Metrology :

  • Obtenez des mesures automatiques et une documentation conforme aux normes ISO 25178, DIN, ASME et autres
  • Créez des rapports métrologiques entièrement traçables
  • Caractérisez les surfaces et les profils en incluant des paramètres tels que la hauteur d'échelon, la distance, le contour à l'échelle nanométrique, la rugosité et l'ondulation ainsi que la taille des particules et des grains

SmartSEM Touch

Explorez une région d'intérêt d'un simple glissement du doigt

Sélectionnez une région d'intérêt d'un simple glissement du doigt pour que le système EVO collecte automatiquement vos données, sans intervention de votre part, pendant que vous effectuez d'autres tâches. La mise à niveau garantit un processus convivial grâce à son interface tactile moderne et à divers outils automatisés.

Avantages :

  • Sélection du type d'échantillon
  • Superpositions de détecteurs
  • Annotation et mesure

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Étude de cas

Vide et facilité d'utilisation

Améliorez votre confort et simplifiez votre routine de travail en réduisant le temps de chargement et en augmentant le débit d'échantillons grâce au sas ou en réduisant considérablement le niveau sonore grâce au mode silencieux ZEISS ECO. Décontaminez votre échantillon et votre chambre grâce au nettoyeur plasma ou améliorez la qualité d'image en compensant l'effet de charge grâce au canon à électrons ou à la fonction de compensation de charge.

Sas Réduction du temps de chargement – Augmentation du débit d'échantillons

Le sas permet un chargement efficace des échantillons sans rupture du vide existant et réduit ainsi le risque de contamination de la chambre à échantillon. Cette méthode permet également de réduire considérablement le temps de remplacement des échantillons.

 

Avantages :

  • Amélioration significative du rendement
  • Chargement de grands échantillons
  • Manipulation ergonomique et pratique

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Compensation de charge

Profitez de la réduction des effets de charge et d'une option de nettoyage in situ

Le système de compensation de charge permet de décharger localement les échantillons non conducteurs par ionisation de l'azote. La résolution élevée combinée à une expansion supplémentaire des capacités d'analyse, avec l'intégration d'un système de compensation de charge, n'est pas seulement limitée aux échantillons conducteurs, mais peut également être appliquée à tous les types d'échantillons non conducteurs.

Avantages :

  • Capture d'échantillons non conducteurs
  • Amélioration de la qualité d'image
  • Amélioration de la productivité et diversification

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Nettoyeur plasma

Nettoyage rapide et efficace de votre chambre

ZEISS propose une solution rapide et rentable pour décontaminer les échantillons et les chambres. Un nettoyeur de plasma est utilisé pour générer des radicaux réactifs en phase gazeuse dans un plasma. Les radicaux migrent dans la chambre de l'instrument et réagissent chimiquement avec les hydrocarbures indésirables.

Avantages

  • Qualité d'image améliorée
  • Décontamination rapide des échantillons
  • Décontamination sécurisée

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Focal CC

Définissez la qualité d'image par la suppression des effets de charge

Focal CC (Focal Charge Compensation) de ZEISS est un système d'injection de gaz perfectionné qui permet d'améliorer la qualité de l'image en éliminant les effets de charge. L'ancienne méthode de chargement des échantillons, en particulier les échantillons contenant de grandes régions de résine brute, entraînait une dégradation importante de la qualité de l'image, ainsi qu'une distorsion.

Avantages :

  • Imagerie de haute résolution
  • Prévention des dommages
  • Rétraction automatique de l'aiguille

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Mode silencieux ZEISS ECO

Réduction du bruit et économies d'énergie

En utilisant le mode silencieux ZEISS ECO et un réservoir à vide, la pré-pompe s'arrête automatiquement après avoir atteint un niveau de vide prédéfini en usine. Le réservoir à vide permet de faire fonctionner le système pendant des heures sans avoir recours à la pré-pompe. Cette disposition permet de réduire à la fois les niveaux de bruit et la consommation d'énergie.

 

Avantages :

  • Fonctionnement plus confortable
  • Imagerie haute définition
  • Économies d'énergie

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Autres accessoires

Améliorez votre microscope en y ajoutant des accessoires tels que des porte-échantillons, la dernière version de notre manette à double commande et du panneau de commande ou une alimentation sans interruption (ASI) qui assure la sécurité de votre système en cas de panne de courant.

Alimentation sans interruption

Sécurisez votre microscope en cas de panne de courant et évitez les pertes de données

Un système d'alimentation sans interruption (ASI) est utilisé si une alimentation électrique régulière ne peut être garantie. Il est conçu pour pallier aux courtes pannes de courant et pour arrêter le microscope de manière contrôlée lors de pannes de courant prolongées.

 

Avantages :

  • Pallie aux brèves pannes de courant
  • Sécurité pour votre microscope

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Double commande et panneau de commande du MEB

Contrôlez votre MEB plus facilement

La manette à double commande ainsi que le panneau de commande rendent l'utilisation du système beaucoup plus agréable. La manette à double commande peut être utilisée pour contrôler la platine et naviguer dans les échantillons. Le panneau de commande permet d'accéder très facilement aux fonctions les plus utilisées du MEB.

Avantages :

  • De nombreuses possibilités de compensation
  • Diverses options de configuration
  • Manipulation pratique

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