Innovationen bei Nanomaterialien

• Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop: Die Charakterisierung ist für die materialwissenschaftliche Forschung von grundlegender Bedeutung, weshalb die ultrahochauflösende Elektronenmikroskopie entscheidend für das Verständnis der Struktur und Morphologie ist, die die Materialeigenschaften bestimmen.
• SEM mit fokussiertem Ionenstrahl: Unabhängig davon, ob Sie Nanobauteile herstellen, um supraleitende Nanodrähte zu untersuchen, oder TEM-Lamellen für die Dünnfilmanalyse von CIGS- und Perowskit-Materialien für Solarzellen der nächsten Generation vorbereiten – ein FIB-SEM ist für die Bearbeitung und Herstellung von Materialien im Nanometerbereich unverzichtbar.
• Fortschrittliche Patterning-Software: Optimieren Sie Ihre Prozesse durch die gleichzeitige Steuerung von Ionen- und Elektronenstrahlen, intelligente Betriebsabläufe für gleichmäßigen Materialabtrag und Deposition sowie einen optimierten Versuchsaufbau mithilfe von 3D-Profilen und Array-Builder-Tools. Sparen Sie mit Fastmill bis zu 40 % der Zeit beim Materialabtrag und profitieren Sie von einer effizienten FIB-Querschnittsherstellung.
• ZEN Core EM: Standardisieren Sie die Bildgebungsabläufe an ZEISS Mikroskopen – von Rasterelektronenmikroskopen (SEM) und FIB-SEM bis hin zu Lichtmikroskopen – mithilfe intuitiver, einheitlicher und anpassbarer Benutzeroberflächen, die es Ihnen ermöglichen, sich ganz auf Ihre wissenschaftliche Arbeit zu konzentrieren, anstatt sich mit der Bedienung des Mikroskops beschäftigen zu müssen.

Die Mikroskopielösungen von ZEISS ermöglichen die Forschung an Nanomaterialien durch folgende Vorteile:

• Vielseitigkeit der Proben: Die Mikroskopielösungen von ZEISS umfassen ein breites Spektrum an Licht-, Elektronen- und FIB-Mikroskopen und bieten die nötige Flexibilität, um vielfältige Nanomaterialien und Strukturen präzise und anpassungsfähig zu analysieren.
• Hochpräzise Probenvorbereitung: ZEISS Crossbeam Dual FIB ermöglicht eine präzise Probenvorbereitung für TEM-Lamellen und die Nanobearbeitung und gewährleistet so hochwertige Ergebnisse für die detaillierte Forschung im Bereich der Nanofabrikation.
• KI-gestützte Bildanalyse: Die Software von ZEISS nutzt KI-basierte Modelle, um komplexe Bildanalysen zu vereinfachen, und ermöglicht so die automatisierte Segmentierung, Merkmalextraktion und quantitative Messung für eine aussagekräftige Datenauswertung.
• Vernetzte Bildgebung: Die nahtlose Integration von Bilddaten aus Licht-, Elektronen- und FIB-Mikroskopie sowie von Datensätzen von Drittanbietern ermöglicht eine umfassende Charakterisierung von Nanomaterialien auf verschiedenen Skalen und erweitert damit die Detailgenauigkeit in der nanowissenschaftlichen Forschung.

Die Kombination dieser Lösungen ermöglicht es Ihnen, neue Erkenntnisse zu gewinnen und die Grenzen der Nanomaterialforschung zu erweitern.

Die Technologien von ZEISS kommen täglich zum Einsatz, um die Forschung im Bereich Nanomaterialien und Nanofabrikation von Bauteilen voranzubringen. Hier einige Beispiele:

• Fabrikation von Nanofluidikbauteilen: Die direkte FIB-Nanostrukturierung auf Silizium-Master-Stempeln ermöglicht die schnelle Prototypenerstellung von Nanokanälen in verschiedenen Formen, Querschnitten und Tiefen.
  ZEISS Lösungen für die Mikro- und Nanofluidik
• CIGS-Solarzellen: FIB-Querschnitte von SIGS-Solarzellen auf verschiedenen Substraten geben Aufschluss über die innere Struktur der Zelle und dienen der anschließenden Analyse mittels STEM, EDX und SIMS.
  
• Mikrostrukturanalyse von Batteriekathoden: Auf maschinellem Lernen basierende Segmentierungsmethoden liefern im Vergleich zu klassischen Schwellenwertverfahren genauere Segmentierungsergebnisse.
  

Dies sind nur einige Beispiele. Auf unserer Website finden Sie weitere Ressourcen speziell für Ihre Forschungsanforderungen im Bereich Nanomaterialien.