Produit

ZEISS Axio Imager Vario

Microscope droit pour les échantillons de grande taille

Analysez les plus petits capteurs MEMS ou un écran plat complet avec ZEISS Axio Imager Vario. Sa potence est conçue pour l'observation de très grands spécimens avec une stabilité élevée constante. De plus, Axio Imager Vario est certifié pour le travail en salle blanche.

Examen d'échantillons de grande taille
Compatibilité salle blanche
Mise au point toujours parfaite

Examinez des échantillons de grande taille

Vous avez le choix entre une colonne à réglage manuel ou motorisé et pouvez examiner des échantillons d'une taille maximale de 300 mm × 300 mm et d'une hauteur maximale de 254 mm. Pour travailler sur des échantillons lourds ou l’associer au microscope confocal à balayage laser ZEISS LSM pour les matériaux, la conception robuste de la colonne garantit une stabilité à toute épreuve et prévient les vibrations.

Certifié pour le travail en salle blanche

L'inspection des tranches et des masques photographiques est soumise à des exigences de propreté extrêmement strictes. Ces inspections se déroulent donc en salles blanches. Celles-ci sont classifiées selon la norme DIN EN ISO 14644-1, en fonction du nombre et de la taille des particules par m³. Axio Imager Vario est certifié conformément à cette norme et répond aux exigences de salle blanche de classe 5, la classe ISO 5 étant par ailleurs équivalente à la classe 100 de l'ancienne norme FED STD 209E (1992).

Une mise au point toujours parfaite

Pour l'examen de surfaces réfléchissantes à faible contraste, il suffit d'équiper votre Axio Imager Vario du puissant système Hardware Auto Focus. Ce dernier garantit une précision élevée en lumière réfléchie et transmise. Le capteur détecte la moindre modification de la position de mise au point et entraîne la compensation automatique des variations. Même les échantillons de grande taille restent parfaitement nets lorsqu'ils sont déplacés.

Écran TFT, champ clair, lumière transmise, éléments de pixel rouge, vert et bleu

Hardware Auto Focus

La recherche sur les matériaux et la fabrication industrielle exigent une mise au point garantissant des niveaux de précision élevés de maximum 0,3 fois la profondeur de champ de l'objectif. Découvrez les avantages d'un système de mise au point doté d'une plage de synchronisation jusqu'à 12000 µm. Utilisez la mise au point automatique pour vos applications en lumière réfléchie et en lumière transmise, à champ clair, champ sombre, contraste de polarisation, contraste interférentiel et éclairage oblique.

Applications

Découvrez les applications de métallographie d'Axio Imager Vario pour les matériaux.

Bois

Lumière réfléchie en champ sombre, EC Epiplan-APOCHROMAT 10x/0,30

Bois. Lumière réfléchie en champ sombre, EC Epiplan-APOCHROMAT 10x/0,30
Circuit imprimé

Lumière réfléchie en champ clair, EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0,13

Circuit imprimé. Lumière réfléchie en champ clair, EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0,13
Wafer

Lumière réfléchie, champ sombre, EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95

Wafer. Lumière réfléchie, champ sombre, EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95
Cellule solaire en silicium monocristallin

Lumière réfléchie, C-DIC, EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95

Cellule solaire en silicium monocristallin. Lumière réfléchie, C-DIC, EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95

Applications liées

Téléchargements

Axio Imager Vario

Examinez des échantillons de grande taille – automatiquement et dans des conditions de salle blanche.

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Microscope and Measurement Systems for Quality Assurance and Quality Control

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ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

Accelerating Digital Transformation and Innovation for Semiconductor Electronics

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Quality Control of Large-Sized Prismatic Rechargeable Lithium-Ion Batteries Using Light Microscopy

ZEISS Axio Imager.Z2 Vario

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