ZEISS VersaXRM 730

ZEISS VersaXRM 730 unterstützt das Imaging vom breiten Probenkontext bis hin zur gezielten hochauflösenden 3D-Analyse. Geführte 3D-Navigation, RaaD-Technologie und Rekonstruktionstools tragen dazu bei, interne Strukturen zu lokalisieren, die räumlichen Zusammenhänge zu wahren und komplexe Proben über verschiedene Skalierungen hinweg zu charakterisieren.

VersaXRM 730 ist das führende System für die ultimative VersaXRM Leistung. Dieses System bietet höchste Auflösung für anspruchsvollste Proben und Anwendungen, maximalen Durchsatz, Automatisierung und Flexibilität, ergänzt durch moderne Techniken wie Beugungskontrast-Tomografie im Labor und High Aspect Ratio Tomography.

VersaXRM 730 eignet sich für anspruchsvolle Materialien, Halbleitereinheiten, Industriebauteile, Batteriematerialien, biologische Proben, geologische Materialien und komplexe Baugruppen. Seine Stärken zeigt es besonders bei der zerstörungsfreien Charakterisierung schwieriger innerer Strukturen, wenn es gilt, den Probenkontext zu wahren.

Die geführte 3D-Navigation und Volumen Scout begleiten die Anwender vom Übersichts-Imaging bis hin zur Ansteuerung der interessierenden Bereiche im Inneren. Die Ziele lassen sich direkt in den 3D-Daten definieren und machen damit Schluss mit den Ratespielen vor dem hochauflösenden Imaging oder einer nachgelagerten Analyse.

Durch das zerstörungsfreie 3D-Imaging lassen sich die inneren Strukturen ganz ohne Schneiden, Trimmen oder Demontage der Probe analysieren. Dies trägt dazu bei, Beweise bei der Fehleranalyse zu erhalten, wahrt den biologischen oder materialbezogenen Kontext, unterstützt wiederholte 4D-Untersuchungen und lenkt die nachgelagerte korrelative Mikroskopie.

Die Rekonstruktionstechnologien der Advanced Reconstruction Toolbox verbessern die Bildqualität, reduzieren Artefakte, erhöhen den Durchsatz und unterstützen die Interpretation schwieriger Datensätze. VersaXRM 730 umfasst eine Zwei-Jahres-Lizenz für DeepRecon Pro, die auf Wunsch mit Zusatzmodulen je nach Probenart, Imaging-Herausforderung und Anforderungen im Imaging-Workflow ergänzt werden kann.

VersaXRM 730 eignet sich für anspruchsvollste Anwendungen in den Bereichen Materialforschung, Fehleranalyse von Halbleitern und Elektronik, Industrieforschung, Batterie- und Energiematerialien, Biowissenschaften und geologische Forschung.

VersaXRM 730 unterstützt das rezeptbasierte Scanning, ein integriertes motorisiertes Filterrad, den Autoloader, APIs für die Gerätesteuerung sowie Advanced Reconstruction. Diese Funktionen reduzieren den manuellen Aufwand und bewirken Konsistenz und höheren Durchsatz in Imaging-Umgebungen, in denen es auf Präzision ankommt.

VersaXRM 730 ist ein zerstörungsfreies 3D-Röntgenmikroskop für den Einsatz im Labor. Das System beruht auf der Computertomografie (CT) und eignet sich für verschiedenste Anwendungen in Material-, Industrie- und biowissenschaftlicher Forschung.

ZEISS VersaXRM 730 kommt bei anspruchsvollen Anwendungen in den Bereichen Materialcharakterisierung, Fehleranalyse von Halbleitern und Elektronik, Industrieforschung, Analyse von Batterie- und Energiematerialien, Biowissenschaften und geologische Forschung zum Einsatz. Das System charakterisiert komplexe innere Strukturen in 3D, ohne die Probe zu zerstören.

ZEISS VersaXRM 730 visualisiert innere Probenstrukturen mithilfe der Röntgenmikroskopie, ohne dass die Probe geschnitten oder zerlegt werden muss. Das wahrt den Probenkontext, unterstützt wiederholtes Imaging und lenkt die nachgelagerte korrelative Mikroskopie.

ZEISS VersaXRM 730 eignet sich für Labore und Teams, die auf die ultimative VersaXRM Leistung für anspruchsvollste Proben und Anwendungen, maximalen Durchsatz, maximale Automatisierung, moderne Techniken und durchgängige Leistungsfähigkeit für das präzise mehrstufige Imaging angewiesen sind.