Microscopios de rayos X ZEISS Xradia Versa

LabDCT Pro para la tomografía de contraste de difracción (DCT), disponible exclusivamente en Xradia 630 y 620 Versa, permite el mapeo no destructivo de la orientación y la microestructura de los granos en 3D. La visualización directa de la orientación de grano cristalográfica en 3D abre una nueva dimensión en la caracterización de materiales policristalinos, como aleaciones metálicas, geomateriales, cerámicas o sustancias farmacológicas.

✔ LabDCT Pro es compatible con muestras con estructuras cristalinas, desde simetría cúbica hasta sistemas de menor simetría como materiales monoclínicos.
✔ Consiga información cristalográfica de alta resolución usando el objetivo dedicado 4X DCT. Para muestras aún más grandes, use el mapeo de área grande y aumente su rendimiento con la extensión de panel plano (FPX).
✔ Obtenga análisis exhaustivos de la microestructura en 3D a partir de volúmenes representativos más grandes y geometrías de muestra variadas.
✔ Investigue la evolución microestructural con experimentos de captura de imágenes en 4D.
✔ Combine la información cristalográfica en 3D con funciones microestructurales en 3D.
✔ Combine modalidades para entender las relaciones estructura-propiedad.

Con la extensión de metrología (MTX), puede convertir su Xradia 620 Versa en un sistema de precisión de medición verificado que va más allá de los límites de la tecnología CT convencional. Esto es esencial para los laboratorios académicos e industriales en los que la miniaturización y la integración de los componentes impulsan una creciente demanda de metrología de alta resolución. Benefíciese de la captura de imágenes con rayos X de alta resolución combinada con metrología de alta precisión.

✔ Precisión de metrología CT líder: ZEISS Xradia Versa, calibrado con MTX, proporciona un valor de error permisible máximo líder en el mercado de MPE_SD = (1,9 + L/100) μm para mediciones en volúmenes a pequeña escala, donde L es la longitud medida en mm.
✔ Pequeños volúmenes con elevada resolución: MTX permite mediciones con elevada precisión dimensional dentro de volúmenes reconstruidos pequeños de 125 mm³.
✔ Flujo de trabajo de calibración simple: el paquete MTX proporciona un flujo de trabajo integrado de calibración guiado por el usuario.
✔ Una vez que se ha ejecutado la rutina de calibración, puede realizar mediciones precisas y poner los datos a disposición del software de metrología estándar para su posterior procesamiento.

Amplíe la investigación científica más allá de las limitaciones de los sistemas de microCT basados en proyecciones con resolución submicrónica gracias a ZEISS Xradia 510 Versa XRM. La tomografía computarizada tradicional se basa en una única platina de ampliación geométrica y mantener una elevada resolución para muestras más grandes es imposible, debido a las distancias mayores de trabajo que se necesitan. ZEISS Xradia Versa XRM incluye un proceso único de dos platinas basado en la óptica de un sincrotrón. Las capacidades de múltiples escalas le permiten captar imágenes de la misma muestra en una amplia gama de aumentos. Una ventaja añadida: Cualquier persona de su ajetreado laboratorio puede usar ZEISS Xradia 510 Versa con facilidad.

✔ Reduzca la dependencia del aumento geométrico y mantenga una resolución submicrónica incluso con distancias de trabajo grandes
✔ Experimente la versatilidad para una amplia gama de materiales, incluyendo z baja y suave, con soluciones de contraste únicas que superan las limitaciones de la tomografía computarizada tradicional
✔ Caracterice la microestructura de materiales en sus entornos casi originales in situ y estudie la evolución de las propiedades con el tiempo (4D)

Los sistemas ZEISS XRM se especifican en resolución espacial auténtica, la medida más significativa del rendimiento de su microscopio. La resolución espacial hace referencia a la separación mínima a la que dos características pueden ser resueltas por un sistema de captura de imágenes. Normalmente la mediría captando imágenes con una resolución estandarizada objetivo con parejas de línea-espacio progresivamente más pequeñas. La resolución espacial es responsable de características críticas, como el tamaño del punto de la fuente de rayos X, la resolución del detector, la geometría de ampliación y la estabilidad vibracional, eléctrica y térmica.

✔ Resolución espacial auténtica de 0,7 μm con un tamaño de vóxel mínimo factible de 70 nm
✔ Los detectores adaptados a la energía permiten la máxima resolución en amplias gamas de tipos de muestras y densidades
✔ La fuente opera en todo el espacio de aplicación (30-160 kV) con una amplia gama de detectores, con lo que se elimina la necesidad de reconfiguraciones manuales del hardware