
Microscopios de rayos X ZEISS Xradia Versa
Descubra más con la captura de imágenes de rayos X en 3D no destructiva con resolución submicrónica
Los microscopios de rayos X en 3D (XRM) ZEISS Xradia Versa extremadamente versátiles proporcionan una calidad superior de imagen en 3D y datos para una amplia gama de materiales y entornos de trabajo. Xradia Versa XRM cuenta con una ampliación de dos platinas basada en la óptica de un sincrotrón y en la revolucionaria tecnología RaaD™ (resolución a distancia) para una elevada resolución, incluso a grandes distancias de trabajo, una gran mejora con respecto a la tomografía microcomputarizada tradicional. La captura de imágenes no destructiva conserva y amplía el uso de sus muestras valiosas, lo que hace posible realizar estudios en 4D e in situ.
Xradia 630 Versa
ZEISS Xradia 630 Versa, con el exclusivo objetivo 40X Prime de mayor capacidad energética, le permite superar los límites de la obtención de imágenes submicrónicas como nunca antes.
El sistema alcanza un rendimiento de resolución incomparable de 450-500 nm en todo el rango energético, de 30 kV a 160 kV, lo que ofrece capacidades totalmente nuevas para su investigación. NavX dirige a los usuarios a través de flujos de trabajo automatizados con información inteligente del sistema para proporcionar resultados de forma fácil y eficaz. DeepScout, basado en IA, cambia las reglas del juego para profundizar en su muestra con un rendimiento 100 veces superior.

Xradia 620 Versa
Potencie el rendimiento de su Xradia 620 y 630 Versa y obtenga más información con sus capacidades avanzadas. Mejore el contraste de la absorción para materiales de Z baja o similar con el Visualizador de contraste de barrido doble (DSCoVer, por sus siglas en inglés). Desbloquee la información cristalográfica en 3D con tomografía de contraste de difracción basada en laboratorio (LabDCT). Mejore la velocidad y la precisión de escaneo de muestras grandes o irregulares con técnicas de adquisición avanzada, como la tomografía de relación de aspecto elevada (HART).
Una reconstrucción de la microestructura granular de Armco Iron, captada con LabDCT. Los granos se colorean mediante orientación cristalográfica y la reconstrucción revela la auténtica forma de los granos. El fondo muestra un ejemplo de patrón de difracción que se recaba durante la adquisición de LabDCT.

Xradia 610 Versa
Al aprovechar la capacidad RaaD, la serie 600 de Xradia Versa mantiene la máxima resolución en grandes distancias de trabajo, acomodando muestras contenidas en cámaras ambientales y plataformas de carga in situ de alta precisión. La serie 600 de XRM ofrece una resolución y rendimiento aún mayores que las generaciones anteriores. Xradia Versa se integra fácilmente con otros microscopios de ZEISS para resolver sus desafíos correlativos a múltiples escalas.
Muestra de pasta de cemento mezclada con resina, lo cual permite que la pasta adquiera una mayor porosidad. Esto da lugar a un mejor comportamiento de congelación-descongelación. Cortesía de la Universidad de Ciencia y Tecnología de Nanjing, China

Xradia 510 Versa
Benefíciese de la técnica de ampliación de dos platinas ofrecida por ZEISS Xradia Versa para lograr RaaD de forma única, lo cual le permite estudiar de forma efectiva el rango más amplio de tamaños de muestra. El intuitivo software de control Scout-and-Scan permite una amplia gama de habilidades de usuario en su ajetreado laboratorio.
Polímero con columna de uretano. Captura de imágenes tras experimentos in situ. La simulación del flujo de fluido demuestra permeabilidad. Cortesía del Laboratorio químico nacional de India
Innovadora captura de imágenes con ZEISS Xradia Versa XRM
Observe las características destacadas de los microscopios de rayos X en 3D ZEISS Xradia Versa: captura de imágenes no destructiva, mayor resolución y mayor rendimiento.
La tecnología detrás de los microscopios de rayos X Xradia Versa
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La ventaja versátil de RaaD
La ventaja versátil de RaaD
La técnica de ampliación de dos platinas ofrecida por ZEISS Xradia Versa logra resolución a distancia, o RaaD, de forma única, lo cual le permite estudiar de forma efectiva el rango más amplio de tamaños de muestra, incluyendo aquellas dentro de cámaras in situ .
Las imágenes inicialmente se amplían mediante proyección geométrica, como con la microCT convencional. La imagen proyectada se arroja sobre un escintilador, convirtiendo los rayos X en una imagen de luz visible que después se amplía ópticamente mediante la óptica del microscopio antes de la adquisición por parte de un detector CCD.
Al reducirse la dependencia del aumento geométrico, se permite a las soluciones ZEISS Xradia Versa mantener una resolución espacial submicrónica de solo 500 nm con grandes distancias de trabajo.
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Ensayo de tracción de acero soldado con láser bajo carga en aumento.
Amplíe los límites del progreso científico
Los sistemas de rayos X ZEISS Xradia ofrecen la primera solución de captura de imágenes en 3D de la industria para la mayor variedad de plataformas in situ , desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.
Estos estudios requieren alejar las muestras de la fuente de rayos X para acomodar los distintos tipos de plataformas in situ . En sistemas tradicionales de microCT, esto limita significativamente la resolución que se puede conseguir para sus muestras. ZEISS XRM está equipado de forma única con arquitectura de ampliación de dos platinas con tecnología RaaD que permite la máxima resolución para la captura de imágenes in situ .
Las plataformas ZEISS Xradia XRM pueden alojar una amplia variedad de plataformas in situ , desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas y diseños personalizados para los usuarios. Puede añadir el kit de interfaz opcional in situ a su ZEISS Xradia XRM, que incluye un kit de integración mecánica, una robusta guía de cableado y otras funciones (vías de paso) junto con el software basado en recetas que simplifica su control desde dentro de la interfaz de usuario Scout-and-Scan de Versa. Cuando necesita ir más allá de los límites de resolución de sus experimentos in situ , convierta su ZEISS Xradia microCT o XRM en un microscopio de rayos X Xradia 620 Versa y aproveche la tecnología RaaD para lograr el máximo rendimiento de captura de imágenes tomográficas de muestras dentro de cámaras o plataformas in situ .
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Comience su microscopía multiescala, multimodal y multidimensional con la obtención no destructiva de imágenes en 3D
Debido a la naturaleza no destructiva de los rayos X y la versátil gama de tipos y tamaños de muestras que pueden captar, la microscopía correlativa a menudo empieza con o es posible gracias a ZEISS Xradia Versa XRM.
Mediante el uso de la función Scout-and-Zoom de Versa, puede definir con claridad su región de interés (ROI) antes de sacrificar su muestra al corte prematuro u otra preparación de la muestra. Explore rápidamente a baja resolución con un campo de visión grande y después haga zoom en la región de interés con mayor resolución, tanto si usa la gama de objetivos Versa (hasta 40x), la nanoescala Xradia Ultra XRM o microscopios ópticos, electrónicos o FIB-SEM de ZEISS. Esto evita la destrucción prematura de la muestra y permite la máxima eficiencia del flujo de trabajo cuando se combina todo el contexto de la muestra con la información clave de la muestra.
Además, la capacidad de realizar tomografía interior o de ver con claridad dentro de su muestra en 3D reduce aún más el riesgo de perder de vista su región de interés. Consiga una mayor eficiencia señalando una "dirección" específica a la que navegar para dar los siguientes pasos de forma precisa y eficiente al examinar su muestra.
Finalmente, examine su muestra en condiciones variables y con el tiempo con estudios in situ y en 4D antes de realizar más análisis (químicos, de superficie, etc.) con otras modalidades de ZEISS.
Aproveche la gama más amplia de soluciones de microscopía disponibles, exclusiva de ZEISS, para realizar análisis multimodales, multidimensionales y con múltiples escalas de longitud, empezando con la microscopía de rayos X en 3D no destructiva.
Flujo de trabajo completo de muestras correlativas para el proyecto. Los escaneos XRM iniciales resaltan las áreas clave para la obtención de imágenes de mayor resolución y las ubicaciones objetivo para la orientación de secciones finas dentro del volumen. El análisis 2D posterior incluye microscopía electrónica y óptica, lo que permite establecer una correlación con los datos microanalíticos in situ.
Accesorios
Mejore su microscopio con accesorios adicionales para potenciar sus capacidades


Autoloader
Maximice la utilización de su instrumento
Maximice el uso y minimice la intervención del usuario con el Autoloader opcional de ZEISS. Reduzca la frecuencia de interacción del usuario y aumente la productividad realizando múltiples análisis. Cargue hasta 14 estaciones de muestras, que pueden albergar hasta 70 muestras, déjelas en cola para que se analicen durante el día, o bien entre turnos.


Kit de interfaz in situ
Amplíe los límites de la ciencia
Las plataformas ZEISS Xradia pueden alojar una amplia variedad de plataformas in situ, desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas y diseños personalizados para los usuarios. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.


Batería de iones de litio
Visualización y análisis
ZEISS recomienda Dragonfly Pro
Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.