Microscopes à rayons X ZEISS Xradia Versa

Disponible exclusivement sur Xradia 630 et 620 Versa, LabDCT Pro pour la tomographie par contraste de diffraction (DCT) permet une cartographie non destructive de l'orientation des grains et de la microstructure en 3D. La visualisation directe de l'orientation des grains cristallographiques 3D ouvre une nouvelle dimension dans la caractérisation des matériaux polycristallins, comme les alliages métalliques, les géomatériaux, les céramiques ou les produits pharmaceutiques.

✔ LabDCT Pro prend en charge les échantillons avec des structures cristallines, de la symétrie cubique aux systèmes à symétrie d'ordre inférieure tels que les matériaux monocliniques.
✔ Obtenez des informations cristallographiques haute résolution à l'aide de l'objectif DCT 4X dédié. Pour des échantillons encore plus grands, utilisez la cartographie de grande surface et augmentez votre rendement avec l'extension d'écran plat (FPX).
✔ Obtenez une analyse complète de la microstructure 3D à partir de volumes représentatifs plus importants et de géométries d'échantillons variées.
✔ Étudiez l'évolution de la microstructure en effectuant des expériences d'imagerie 4D.
✔ Combinez des informations cristallographiques 3D avec des caractéristiques microstructurales 3D.
✔ Combinez les modalités pour comprendre les relations structure-propriété.

L'option d'extension pour la métrologie (MTX) transforme votre Xradia 620 Versa en un système de mesure haute précision, vérifié bien au-delà des limites de la technologie CT conventionnelle. Cette fonctionnalité est essentielle pour les laboratoires universitaires et industriels, où la miniaturisation et l'intégration des composants impliquent une demande croissante en métrologie de haute résolution. Bénéficiez d'une imagerie à rayons X haute résolution associée à une métrologie de haute précision.

✔ Métrologie CT de pointe à haute précision : Calibrée avec MTX, ZEISS Xradia Versa fournit une valeur d'erreur maximale tolérée, première sur le marché, de MPE_SD = (1,9 + L/100) μm pour les mesures à petite échelle, où L est la longueur mesurée en mm.
✔ Petits volumes à haute résolution : MTX permet des mesures avec une précision dimensionnelle élevée dans de petits volumes reconstruits de 125 mm³.
✔ Processus d'étalonnage simple : Le pack MTX propose un processus d'étalonnage intégré et guidé.
✔ Une fois la routine d'étalonnage exécutée, vous effectuez des mesures précises et mettez les données à la disposition d'un logiciel de métrologie standard pour un traitement ultérieur.

ZEISS Xradia 510 Versa XRM étend la recherche scientifique au-delà des limites des systèmes microCT basés sur la projection, à une résolution submicronique. La tomographie assistée par ordinateur classique repose sur une seule étape de grossissement géométrique et le maintien d'une résolution élevée pour les échantillons plus grands n'est pas possible en raison des distances de travail plus longues requises. Les XRM ZEISS Xradia Versa sont dotés d'un processus unique en deux étapes basé sur une optique de calibre synchrotron. Les capacités d'échelles à longueurs multiples permettent de capturer des images du même échantillon sur une large gamme de grossissements. Avantage supplémentaire : ZEISS Xradia 510 Versa est facile à utiliser par tous les utilisateurs de votre laboratoire.

✔ Réduisez la dépendance au grossissement géométrique et conservez une résolution submicronique même à de grandes distances de travail
✔ Découvrez la polyvalence d'une grande variété de matériaux, y compris les matériaux déformables et à faible Z, avec des solutions de contraste uniques qui surpassent les limites de la tomographie classique
✔ Caractérisez la microstructure des matériaux dans des environnements natifs simulés in situ et étudiez l'évolution des propriétés dans le temps (4D)

Les systèmes XRM ZEISS bénéficient de la résolution spatiale, à ce jour la mesure la plus probante des performances de votre microscope. La résolution spatiale désigne la séparation minimum à laquelle un système d'imagerie peut discriminer deux éléments. Elle se mesure généralement en reproduisant une cible de résolution standard où l'écart entre deux éléments diminue progressivement. La résolution spatiale explique des caractéristiques pertinentes, par exemple la taille du spot de la source de rayons X, la résolution du détecteur, la géométrie de grossissement et la stabilité vibrationnelle, électrique et thermique.

✔ Résolution spatiale réelle de 0,7 μm avec une taille de voxel minimale réalisable de 70 nm
✔ Détecteurs à réglage énergétique permettant d'obtenir la résolution maximale pour une large gamme de types et de densités d'échantillons
✔ La source se propage dans la totalité de l'espace d'application (30-160 kV) comportant de nombreux détecteurs, ce qui élimine le besoin de reconfigurer manuellement le matériel