RGB-LED灯带的宏观细节
显示器、LED和光子学

使用先进的显微镜加速产品的开发和制造进程

提高无缺陷器件的产量

消费者对电子产品中显示器界面清晰度和交互性提升的期望推动着竞争激烈的显示器行业不断创新。随着显示器技术的持续发展,LCD和刚性有机发光二极管(OLED)技术现已能够以低成本实现大批量生产,而高端消费产品则提供柔性OLED和microLED显示器。

OLED、microLED和光子学应用往往涉及复杂的系统,使用敏感且难以分析的材料,在开发和制造过程中需要先进的显微镜技术。

协作工作流加速获取结果的过程

蔡司显微镜解决方案可以加快产品的上市,并提高无缺陷器件的产量。解决方案包括:

  • 从X射线显微镜到光学显微镜,再到电子显微镜的全面关联产品组合,以多个长度尺度和多种模态自动进行图像采集和分析
  • 企业软件允许在工具之间传输和共享数据,以开展协作,缩短获得结果的时间
  • 用于空气敏感材料分析的专用样品处理工作流。低温和惰性气体样品处理要确保样品表面处于原始状态,这对于后续分析的成效至关重要

显示器、LED和光子学应用

显示器、LED和光子学领域的技术创新不断加速,以服务于新兴和多样化的应用。我们提供具有自动化图像采集功能的显微镜解决方案,适用于多模态、多尺度分析,能够加快上市并提高无缺陷器件的产量。

图像传感器的三维断层扫描

图像传感器的三维FIB-SEM断层扫描数据集,使用蔡司Crossbeam采集。体积大小:15.5 × 15.3 × 11.2 µm3,体素大小(15 nm)3。该技术的一个应用是检查三维数据集中的空间裂纹扩展。

智能手机相机模块的三维断层扫描

智能手机相机模块的三维X射线图

智能手机相机模块的三维重构

智能手机相机模块的三维X射线图

智能手机相机模块的三维重构

相机模块的三维X射线无损成像,以18 µm/体素的分辨率采集,显示了CMOS成像传感器和其他机械组件。

使用蔡司Xradia Versa X射线显微镜成像

六层光学镜头组,使用三维XRM成像

智能手机相机镜头分析

六层光学镜头组,使用三维XRM成像

智能手机相机镜头分析

聚焦于六层光学镜头组的虚拟截面,以18 µm/体素的分辨率成像。

使用蔡司Xradia Versa X射线显微镜通过Compton散射机制和蔡司专有源滤光片采集

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    • ZEISS GeminiSEM FE-SEM Family

      Perform versatile, high-resolution semiconductor imaging and characterization.

      页: 2
      文件大小: 1 MB
    • ZEISS Xradia Context microCT

      3D submicron-resolution X-ray microCT with superior image quality

      页: 2
      文件大小: 1 MB

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