ZEISS Xradia Context microCT
Producto

ZEISS Xradia Context MicroCT La plataforma de MicroCT más avanzada de la industria

La tomografía microcomputarizada de ZEISS Xradia Context (microCT, por sus siglas en inglés) es un sistema fácil de usar para el análisis de todo tipo de muestras. Un detector de orden alto permite la elevada resolución de los pequeños detalles, incluso con volúmenes de captura de imágenes relativamente grandes. El sistema presenta un campo de visión grande, un montaje y una alineación rápidos de la muestra, un flujo de trabajo de adquisición optimizado y unos tiempos rápidos de exposición y reconstrucción de datos.

  • Obtenga datos en 3D sobre componentes electrónicos intactos enteros, muestras de materiales grandes o especímenes biológicos.
  • Realice análisis de fallos no destructivos para identificar defectos internos sin cortar su muestra o pieza de trabajo.
  • Caracterice y cuantifique las heterogeneidades que definen el rendimiento en sus muestras geológicas, como porosidad, grietas, inclusiones, defectos o múltiples fases.
  • Realice estudios evolutivos en 4D mediante el tratamiento ex situ o la manipulación de la muestra in situ.
  • Conéctese al entorno de microscopía correlativa de ZEISS y capture imágenes de forma no destructiva en 3D para identificar regiones de interés para el análisis posterior.
Vista de corte virtual del interior de un convertidor catalítico intacto

Captura de imágenes en 3D con todo el contexto

  • Xradia Context le proporciona una excelente calidad de imagen, estabilidad y facilidad de uso, junto con un entorno con flujo de trabajo eficiente y un alto rendimiento de escaneo
  • Resuelva pequeños detalles en su contexto 3D completo, incluso con un volumen de captura relativamente grande, con un detector de alta densidad de píxeles de seis megapíxeles
  • Visualice estructuras enterradas de forma no destructiva en 3D para el análisis de procesos, el análisis de construcción y el análisis de fallos
  • Maximice la ampliación geométrica con pequeñas muestras para identificar y caracterizar estructuras a escala micrónica con gran contraste y claridad
  • Aproveche el flujo de trabajo de adquisición optimizado, los rápidos tiempos de exposición y la reconstrucción de datos

Vista de corte virtual del interior de un convertidor catalítico intacto

    Escaneo con Context microCT de un reloj inteligente intacto.

    Basado en la plataforma Xradia de eficacia probada

    • Con Xradia Context microCT se beneficiará de años de desarrollo y estabilidad probada, ya que se ha construido en la misma plataforma que la serie Xradia Versa
    • Benefíciese de un sistema centrado en avances en alta resolución y alta calidad de obtención y reconstrucción de datos
    • El sistema de control fácil de usar Scout-and-Scan le proporciona un entorno de flujo de trabajo eficiente
    • Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un Autoloader opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras
    • Con el kit in situ podrá realizar estudios en 4D e in situ para medir cambios en la microestructura de los materiales en condiciones variables
    • Añada el kit de herramientas de reconstrucción avanzada para un rendimiento aún más rápido con excelente calidad de imagen

    Escaneo con Context microCT de un reloj inteligente intacto.

            Captura de imágenes del campo de visión completo de una mandíbula de oso

            Convertible a microscopio (XRM) Xradia Versa

            • A medida que evolucionan sus necesidades de captura de imágenes, también debería hacerlo su instrumento. Xradia Context se une al portfolio de captura de imágenes de rayos X de ZEISS, beneficiándose del compromiso continuo de ZEISS de ampliar las capacidades y la funcionalidad de sus sistemas en el campo.
            • Esto abre la puerta de la captura de imágenes tomográficas en 3D que está preparada para crecer al ritmo de sus necesidades: su Xradia Context microCT es el único microCT que se puede convertir en cualquier momento a CrystalCT o a una plataforma 5XX e incluso hasta un microscopio de rayos X (CRM) en 3D ZEISS Xradia 620 Versa.

            Captura de imágenes del campo de visión completo de una mandíbula de oso

                    Campos de aplicación

                    • Escaneo con Context microCT en 3D de un altavoz inteligente.
                      Escaneo con Context microCT en 3D de un altavoz inteligente.

                      Electrónica

                      Escaneo con Context microCT en 3D de un altavoz inteligente. Visualice estructuras y defectos enterrados de forma no destructiva en 3D en una amplia gama de tamaños de muestras con resolución líder de su clase en el campo de visión elegido.

                    • Renderizado en 3D de una bombilla
                      Renderizado en 3D de una bombilla

                      Fabricación

                      Renderizado en 3D de una bombilla. Se puede usar el contexto para realizar el escaneo de la muestra completa para comprobar estructuras internas o identificar defectos en componentes fabricados.

                    • Vista en corte de renderizado 3D de un embrión de ratón embutido en parafina
                      Vista en corte de renderizado 3D de un embrión de ratón embutido en parafina

                      Ciencias de la vida

                      Vista en corte de renderizado 3D de un embrión de ratón embutido en parafina. Las estructuras internas son visibles con alto contraste. Muestra cortesía del Hospital general de Massachusetts.

                    • Sección transversal virtual de una muestra de roca heterogénea que revela múltiples fases y porosidad.
                      Sección transversal virtual de una muestra de roca heterogénea que revela múltiples fases y porosidad.

                      Geociencia

                      Sección transversal virtual de una muestra de roca heterogénea que revela múltiples fases y porosidad.

                    • Sección transversal virtual mediante una batería de iones de litio ciclada y desempaquetada, que revela daño en el colector de corriente y las capas del cátodo
                      Sección transversal virtual mediante una batería de iones de litio ciclada y desempaquetada, que revela daño en el colector de corriente y las capas del cátodo

                      Ciencias de los materiales

                      Sección transversal virtual mediante una batería de iones de litio ciclada y desempaquetada, que revela daño en el colector de corriente y las capas del cátodo. Muestra cortesía del Prof. D. U. Sauer y el Prof. E. Figgemeier, ISEA, Universidad de Aachen RWTH

                    • Renderizado en 3D de los resultados de un escaneo rápido de una hoja de turbina para evaluar la geometría e inspeccionar en busca de defectos o grietas internos.
                      Renderizado en 3D de los resultados de un escaneo rápido de una hoja de turbina para evaluar la geometría e inspeccionar en busca de defectos o grietas internos.

                      Metales

                      Renderizado en 3D de los resultados de un escaneo rápido de una hoja de turbina para evaluar la geometría e inspeccionar en busca de defectos o grietas internos.

                    Detalles sobre la tecnología

                    • Xradia Context microCT se ha construido sobre la plataforma Xradia Versa consolidada y de eficacia probada
                      Xradia Context microCT se ha construido sobre la plataforma Xradia Versa establecida y de eficacia probada.

                      Xradia Context microCT se ha construido sobre la plataforma Xradia Versa establecida y de eficacia probada.

                      Calidad de imagen basada en tecnología probada

                      Experimente un excelente contraste y claridad de la imagen, permitiendo la diferenciación fácil de distintas fases y características para apoyar la segmentación y cuantificación posteriores de sus datos.

                      La excelente calidad de los datos se debe a varios factores, incluyendo características de la fuente, adaptación de la energía del haz, geometría del detector y sensibilidad, control ambiental, estabilidad vibracional y ante el movimiento, calibración minuciosa del sistema y precisión de reconstrucción. Xradia Context microCT se ha construido sobre la misma plataforma que la serie de microscopios de rayos X de eficacia probada Xradia Versa y ha heredado los mismos avances que ayudaban a Xradia Versa a sentar las bases en la captura de imágenes de rayos X en 3D de alto rendimiento en el laboratorio.

                      • Filtros de rayos X superiores de alta pureza para adaptarse a la muestra para el control del endurecimiento por haz
                      • Modos de corrección automatizada y mejorada del desplazamiento
                      • Avanzados algoritmos de reducción del endurecimiento por haz
                      • Avanzados algoritmos patentados adicionales para asegurar una calidad de imagen óptima
                    • SmartShield es una solución que protege su muestra y su microscopio.

                      Proteja fácilmente sus muestras para optimizar la configuración del experimento

                      SmartShield es una solución que protege su muestra y su microscopio. Este sistema automatizado para evitar colisiones funciona dentro del sistema de control Scout-and-Scan. Le permite navegar con Xradia Versa con más confianza que nunca. Con solo hacer clic con un botón, SmartShield crea una capa digital protectora basada en las dimensiones de su muestra.

                      Con SmartShield, se beneficia de:

                      • Mejor eficiencia del operario gracias a la configuración optimizada de la muestra
                      • Experiencia de usuario mejorada para usuarios principiantes y avanzados
                      • Protección de sus muestras valiosas y de su inversión
                      • Calidad de escaneo sin concesiones
                    • Modo de campo ancho

                      Modo de campo ancho

                      El modo de campo ancho (WFM) se puede usar para captar imágenes en un campo de visión ensanchado lateralmente. El campo de visión ensanchado lateralmente puede proporcionar un volumen 3D tres veces mayor para muestras grandes o proporcionar una mayor densidad de vóxeles para un campo de visión estándar. Todos los sistemas Xradia Versa cuentan con WFM con el objetivo de 0,4x. En combinación con el solapamiento vertical, la WFM le permite captar imágenes de muestras más grandes con una resolución excepcional.

                    Accesorios

                    Mejore su microscopio con accesorios adicionales para potenciar sus capacidades

                    Conjunto de datos de rayos X en 3D de una lente de cámara, captado usando ZEISS Xradia 620 Versa y DeepRecon Pro.
                    Conjunto de datos de rayos X en 3D de una lente de cámara, captado usando ZEISS Xradia 620 Versa y DeepRecon Pro.

                    Caja de herramientas de reconstrucción avanzada

                    Mayor rendimiento con calidad de imagen

                    Tecnologías de reconstrucción basadas en inteligencia artificial (IA) para sus sistemas ZEISS Xradia. Una comprensión exhaustiva de la física y las aplicaciones de rayos X le permite resolver algunos de los desafíos más difíciles en la captura de imágenes de maneras novedosas e innovadoras.

                    La opción de Autoloader le permite programar hasta 70 muestras a la vez para que se analicen secuencialmente.
                    La opción de Autoloader le permite programar hasta 70 muestras a la vez para que se analicen secuencialmente.

                    Autoloader

                    Maximice la utilización de su instrumento

                    Maximice el uso y minimice la intervención del usuario con el Autoloader opcional de ZEISS. Reduzca la frecuencia de interacción del usuario y aumente la productividad realizando múltiples análisis. Cargue hasta 14 estaciones de muestras, que pueden albergar hasta 70 muestras, déjelas en cola para que se analicen durante el día, o bien entre turnos.

                    Kit de interfaces in situ
                    Kit de interfaces in situ

                    Kit de interfaz in Situ

                    Amplíe los límites de la ciencia

                    Las plataformas ZEISS Xradia pueden alojar una amplia variedad de plataformas in situ, desde células de flujo de alta presión hasta platinas de tensión, compresión y térmicas y diseños personalizados para los usuarios. Al ir más allá de las tres dimensiones espaciales, se aprovecha la naturaleza no destructiva de la investigación con rayos X para ampliar sus estudios en la dimensión temporal con experimentos en 4D.

                    Batería de iones de litio
                    Batería de iones de litio

                    Batería de iones de litio

                    Visualización y análisis

                    ZEISS recomienda Dragonfly Pro

                    Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos de medios, incluida la producción de vídeo, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

                    Descargas

                      • ZEISS Xradia Context microCT

                        Your X-ray System for Today with Assurance for Tomorrow in English

                        8 MB
                      • 3D X-ray Microscope Field Conversion and Upgrade Options

                        2 MB
                      • Flyer: ZEISS Xradia Context microCT

                        Advance your R&D with high resolution, non-destructive 3D imaging

                        792 KB
                      • Flyer: ZEISS Xradia Context microCT

                        Increase your profitability and productivity with class-leading performance

                        825 KB
                      • ZEISS Mineralogic 3D for Mining - Flyer

                        Your geometallurgy goals realized with maximum efficiency

                        677 KB
                      • ZEISS PhaseEvolve

                        Reveal contrast that has never been seen before

                        2 MB
                      • ZEISS Solutions for Semiconductor Development, Manufacturing, and Analysis

                        Accelerating Digital Transformation and Innovation for Semiconductor Electronics

                        13 MB


                      • Resolution of a 3D X-ray Microscope

                        Defining Meaningful Resolution Parameters

                        932 KB
                      • 3D X-ray Imaging in Life Science Research

                        An Introduction to Capturing the 3D Structure of Biological Specimens Using X-rays

                        3 MB
                      • The building blocks of our solar system

                        Studying the Winchcombe meteorite

                        3 MB


                    Contacto ZEISS Microscopy

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