Caractérisation micro-structurale ZEISS

Révéler la microstructure pour mieux concevoir, contrôler et fiabiliser les matériaux

Solutions de microscopie pour optimiser la performance des matériaux

Les défis rencontrés dans l'analyse de vos matériaux

La performance d’un matériau repose autant sur sa composition que sur sa microstructure : grains, phases, pores, inclusions ou défauts. Les solutions ZEISS combinent microscopie optique et électronique, rayons X et analyses avancées pour observer, quantifier et corréler ces caractéristiques, du millimètre au nanomètre.
  • Comprendre

    Relier la microstructure, la composition et les interfaces aux propriétés fonctionnelles.

  • Optimiser

    Ajuster les formulations, les procédés, les traitements thermiques, les revêtements et les paramètres de fabrication.

  • Sécuriser

    Détecter les défauts internes, inclusions, porosités, fissures et contaminations avant qu’ils n’affectent la qualité.

  • Valoriser

    Caractériser les minerais, les résidus et les ressources secondaires afin d’améliorer leur récupération ou leur recyclage.

Parcourez les solutions technologiques associées

ZEISS Axio Imager pour les Matériaux
Solutions de Microscopie Optique
ZEISS EVO 15
Solution de microscopie électronique
ZEISS XRM 5 Insight
Solutions de microscopie rayons-X
Solutions logicielles

Matériaux énergétiques

ZEISS Crossbeam 550 FIB-SEM : Analyse 3D ciblée à haute résolution

ZEISS Xradia Versa XRM : Imagerie 3D non destructive à plusieurs échelles

ZEISS zen core : Segmentation et quantification automatisées

Caractérisation de nouveaux matériaux

ZEISS Gemini SEM : Imagerie électronique haute résolution

ZEISS Crossbeam 550 : Préparation ciblée des zones critiques

ZEISS Atlas 500 : Corrélation et navigation multi-échelle.

Matières premières et minéralurgie

ZEISS Xradia Versa XRM : Imagerie volumique non destructive

ZEISS Minéralogic : Minéralogie automatisée en 2D et en 3D

ZEISS Phase Identifier : Classification volumique avancée des phases

Métallurgie et fabrication

ZEISS Axio Imager,
ZEISS Axio Observer
avec ZEN core : Métallographie optique automatisée

ZEISS EVO,
ZEISS Sigma,
ZEISS GeminiSEM
avec EDS, EBSD ou WDS : Caractérisation chimique et cristallographique

ZEISS Xradia Versa XRM
ZEISS Crossbeam FIB-SEM : Imagerie 3D corrélative des défauts internes

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FAQ

  • Les propriétés mécaniques, électriques, électrochimiques, thermiques et chimiques dépendent de la structure interne du matériau, notamment des phases, grains, interfaces, pores, inclusions, défauts et hétérogénéités. Leur caractérisation apporte des données objectives aux équipes R&D et qualité.

  • Une seule technique fournit rarement une vision complète. La microscopie optique conserve le contexte, le MEB révèle la morphologie et la chimie locale, l’EBSD renseigne la cristallographie, le FIB-SEM donne accès à la 3D haute résolution et la microscopie X permet une inspection volumique non destructive.

  • Elle permet d’observer l’intérieur d’un matériau ou d’un composant sans le couper ni l’altérer. Elle est particulièrement utile lorsque les défauts sont enfouis, rares ou difficiles à localiser dans les batteries, pièces métalliques, minerais, assemblages électroniques, soudures et composants critiques.

  • Les workflows corrélatifs rapprochent l’imagerie, la composition chimique, la cristallographie, les données 3D et la segmentation logicielle. Ils aident à identifier les phénomènes associés à la performance, à la dégradation, à la fissuration, à la corrosion ou à la défaillance en service.

  • Selon l’application, ZEN core, ZEN Intellesis, Mineralogic, Phase Identifier 3D et Atlas 5 permettent d’automatiser l’analyse d’image, la segmentation, la classification, la minéralogie ou la navigation multi-échelle.

  • Les applications couvrent les batteries, l’électronique de puissance, les semi-conducteurs, la métallurgie, les soudures, les revêtements, les ressources minières, la minéralurgie, le recyclage et les laboratoires de recherche en sciences des matériaux.

Sources et ressources complémentaires

Matériaux énergétiques :

4D Study of Silicon Anode Volumetric Changes in a Coin Cell Battery using X-ray Microscopy
Dr. Claus Fischer VARTA, Microbattery GmbH
Luke Hunter, Carl Zeiss X-ray Microscopy Inc

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Multi-scale Characterization of Lithium Ion Battery Cathode Material by Correlative X-ray and FIB-SEM Microscopy
Christian Weisenberger, Andreas Kopp, Timo Bernthaler, Volker Knoblauch, Gerhard Schneider - Institut für Materialforschung,
Hochschule Aalen, Germany, Heiko Stegmann, Holger Blank, Alexander Orchowski, Fabián Pérez-Willard - Carl Zeiss Microscopy GmbH, German

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Multi-length Scale Investigations of a Li-ion Battery Cathode Multi-length Scale 3D X-ray Microscopes
Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc

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Quantitative Microstructural Analysis of State-of-the-art Lithium-ion Battery Cathodes Using ZEISS ZEN Intellesis
Alexander Banholzer, Tim Schubert, Timo Bernthaler, Gerhard Schneider - Institute for Materials Research, University Aalen
Tobias Volkenandt - Carl Zeiss Microscopy GmbH, Oberkochen

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Électronique de puissance :

FIB-SEM Fabrication of Atom Probe Specimens with ZEISS Crossbeam
Guillaume Audoit, Adeline Grenier - Univ. Grenoble Alpes, CEA, Leti, Grenoble, France
Fabián Pérez-Willard - Carl Zeiss Microscopy GmbH, Oberkochen, Germany

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Achieving Nano-scaled EDS Analysis in an SEM with a Detector for Transmission Scanning Electron Microscopy
Luyang Han - Carl Zeiss Microscopy GmbH, Germany

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Accelerating semiconductor research via automation: Nanowire characterization and precise feature-of-interest localization with ZEISS GeminiSEM and LithoTags
Dr. Jack Alexander-Webber, Dr. Teja Potocnik - University of Cambridge, Nanomation Ltd., UK
Greg Chu, Dr. Zeinab Tirandaz - University of Cambridge, UK
Dr. Ralf Mouthaan, Dr. Peter Christopher - Nanomation Ltd., UK
Dr. Olena Vertsanova - Carl Zeiss Microscopy GmbH, DE

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Matières premières et minéralurigie :

Improving the recovery of your resources
ZEISS Microscopy Solutions for Mining
Carl Zeiss Microscopy Gmb

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Characterization of Cements and Concretes Using Machine Learning-based Reconstruction and 3D Quantitative Mineralogy ZEISS 3D X-ray Microscopy
Dr Ria L. Mitchell, Andy Holwell - Carl Zeiss Ltd., Cambourne, UK
Dr Giacomo Torelli, Prof. John Provis, Kajanan Selvaranjan, Dr Dan Geddes, Dr Antonia Yorkshire, Dr Sarah Kearney - The University of Sheffield, UK

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Métallurgie et fabrication :

Helping you engineer the alloys of the future 
ZEISS Microscopy Solutions for the Aluminum Industry
Carl Zeiss Microscopy Gmb

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Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research
Carl Zeiss Microscopy Gmb

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Microscopic Methods in Metallography 
Using ZEISS Axio Observer and ZEISS Axio Imager
Gaby Ketzer-Raichle, Dr. Timo Bernthaler, Prof. Dr. Gerhard Schneider -  Aalen University Materials Research Institute, Germany
Dr. Susanne Klerner - Carl Zeiss Microscopy GmbH, Germany
Andy Holwell - Carl Zeiss Microscopy Ltd, Metals Solutions, UK

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Physical, chemical and crystallographic analysis of metal welds ZEISS Microscopy solutions for metallography
Roger Barnett and Andy Holwell - ZEISS Microscopy

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Microscopy in Metal Failure Investigations
Dr. Roger Barnett Carl Zeiss Microscopy, Cambridge UK

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Événements à venir

Les défis rencontrés dans l'analyse de vos matériaux

Comprendre
Optimiser
Sécuriser
Valoriser

Cas d'usage

Relier la microstructure, la composition et les interfaces aux propriétés fonctionnelles.

Ajuster les formulations, les procédés, les traitements thermiques, les revêtements et les paramètres de fabrication.

Détecter les défauts internes, inclusions, porosités, fissures et contaminations avant qu’ils n’affectent la qualité.

Caractériser les minerais, les résidus et les ressources secondaires afin d’améliorer leur récupération ou leur recyclage.

Solutions technologiques

Solutions de Microscopie Optique
Solution de microscopie électronique
Solutions de microscopie rayons-X
Solutions logicielles

Matériaux énergétiques

ZEISS Crossbeam 550 FIB-SEM : Analyse 3D ciblée à haute résolution

ZEISS Xradia Versa XRM : Imagerie 3D non destructive à plusieurs échelles

ZEISS zen core : Segmentation et quantification automatisées

Caractérisation de nouveaux matériaux

ZEISS Gemini SEM : Imagerie électronique haute résolution

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ZEISS Axio Observer
avec ZEN core : Métallographie optique automatisée

ZEISS EVO,
ZEISS Sigma,
ZEISS GeminiSEM
avec EDS, EBSD ou WDS : Caractérisation chimique et cristallographique

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ZEISS Crossbeam FIB-SEM : Imagerie 3D corrélative des défauts internes