Analyse multimodale et multi-échelle des matériaux industriels

Relier les données pour comprendre, quantifier et décider

L’analyse multimodale et multi-échelle combine plusieurs techniques de microscopie et d’analyse pour passer d'une vision globale d'un matériau à une compréhension fine de sa structure, de sa composition et des mécanismes de défaillance. Elle transforme l’information visuelle en connaissance exploitable, puis en décision industrielle, en conservant la continuité entre les différentes échelles d’observation.

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FAQ

  • L’analyse multimodale consiste à combiner plusieurs sources d’information (optique, électronique, rayons X, chimique, cristallographique ou spectroscopique) afin d’obtenir une vision plus complète d’un même échantillon.

  • Une approche multimodale combine plusieurs techniques. Une approche multi-échelle relie plusieurs niveaux d’observation, du composant complet jusqu’à la microstructure ou au défaut nanométrique. Les deux approches sont souvent complémentaires.

  • La microscopie X permet de visualiser l'intérieur d’un échantillon de façon non destructive et de localiser précisément les zones d’intérêt avant des analyses plus localisées en microscopie électronique.

  • Les semi-conducteurs, l’électronique avancée, les batteries, la métallurgie, les matériaux avancés, les composites, les dispositifs photoniques et les procédés de fabrication additive.

  • Les plateformes logicielles corrélatives permettent de conserver les coordonnées, d’aligner les jeux de données et de naviguer du macro au nano tout en gardant le contexte spatial de l’échantillon

Sources et ressources complémentaires

Imagerie 3D multimodale multi-échelle de nanomatériaux
Carl ZEISS Microscopy
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Tomographie 3D et analyse volumique corrélative
Carl ZEISS Microscopy
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Analyse de défaillance multi-échelle
Carl ZEISS Microscopy
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Analyse 3D et préparation d’échantillons avancée
Carl ZEISS Microscopy
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Analyse de défaillance et corrosion des structures métalliques
Carl ZEISS Microscopy
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Imagerie 3D de structures enfouies à l’échelle nanométrique
Carl ZEISS Microscopy
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Analyse de défaillance de structures multicouches métalliques
Carl ZEISS Microscopy
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Tomographie 3D FIB-SEM pour analyse micro- et nanostructurelle
Carl ZEISS Microscopy
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