ZEISS Xradia Ultra

Entienda cómo los eventos de deformación y los fallos se relacionan con características locales a nanoescala. Al complementar los métodos de análisis mecánico existentes, puede obtener información sobre el comportamiento en múltiples escalas de longitud. ZEISS Xradia Ultra Load Stage permite el análisis nanomecánico in situ (compresión, tensión, hendidura) de una forma única, usando la captura de imágenes en 3D no destructiva. Esto le permite estudiar la evolución de las estructuras interiores en 3D, bajo carga, hasta una resolución de 50 nm.

Investigue cambios a nanoescala en el material, como procesos de degradación, expansión térmica y transiciones de fase a temperaturas elevadas. La platina de calentamiento Norcada para ZEISS Xradia Ultra permite la captura de imágenes no destructiva en 3D a nanoescala con temperaturas de muestra elevadas. La tecnología de calentador MEMS proporciona un calentamiento de la muestra en aire de hasta 500 °C. Su diseño flexible permite calentar la muestra o polarizar la tensión de la muestra con la misma unidad.

Acceda rápidamente a sus regiones de interés (ROI), incluso si están enterradas a profundidad, o genere fácilmente muestras con forma de pilar para pruebas con ZEISS Xradia Ultra o en el sincrotrón. Use el LaserFIB, que combina un ZEISS Crossbeam FIB-SEM con un láser de femtosegundos (fs) de pulsos ultracortos para permitir flujos de trabajo correlativos en múltiples escalas de longitud. Encuentre sus regiones de interés usando, por ejemplo, conjuntos de datos de microscopía de rayos X en 3D adquiridos previamente y abórdelas para su análisis ulterior con el flujo de trabajo Cut-to-ROI. Use el láser de fs para cortar milímetros de material y generar muestras para el análisis con Xradia Ultra. A continuación, aproveche las capacidades de FIB-SEM para el fresado, la tomografía, la captura de imágenes y el análisis avanzado a escala nano y micrométrica.

Una solución de software avanzado de visualización y análisis para sus datos en 3D captados mediante una serie de tecnologías, como rayos X, FIB-SEM o SEM. ORS Dragonfly Pro está disponible exclusivamente a través de ZEISS y ofrece un kit de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de datos grandes en escala de grises y en 3D. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación, la creación de archivos audiovisuales, como la producción de vídeos, de sus datos en 3D. Lleve a cabo el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

Potencie su productividad con el innovador sistema de control Scout-and-Scan™ de ZEISS: optimice la configuración de la muestra y del escaneo. La interfaz de usuario basada en el flujo de trabajo le guía por el proceso de alineación de la muestra, exploración de las regiones de interés y configuración de los escaneos en 3D. Las recetas le permiten configurar múltiples escaneos de la misma muestra para captar imágenes de varias regiones de interés o para combinar diferentes modos de captura de imágenes. El sistema fácil de usar es ideal para una configuración tipo laboratorio central, donde los usuarios pueden tener distintos niveles de experiencia. Los usuarios avanzados disfrutan del control total del microscopio para tareas personalizadas de captura de imágenes o la integración en experimentos in situ usando una API de Python integrada.